GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 更新时间:2009年12月10日 资源 GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 资源丢失,暂时无法恢复 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB 5594.2-1985 文件类型:.rar 资源大小:97.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:80648 VIP资源 GB 5594.2-1985标准规范下载简介: GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 商业标准 新闻出版标准 商检标准 电力标准 档案标准 交通标准 外经贸标准 船舶标准 航天工业标准 教育标准 有色金属标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 下一篇 GB 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 相关文章