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T／CSTM 00214-2020 无损检测 超声检测凸曲面斜入射试块的制作与检验方法.pdf制作试块的钢材应具有下列特性： 一用平炉或电炉生产的低碳镇静钢 正火状态； 一晶粒度不低于6级。
5.1校准试块的材质应均匀，且经超声检测无缺陷（见附录A中A.2） 5.2为获得细晶组织和良好的材质均匀性，在最终机加工前应将试块按以下方式进行热处理： a）以920℃的温度保温30min，并用水淬冷； b)再加热到650℃至少保温2h，然后在静止空气中冷却。 6.3热处理后机加工前，应从两个相互垂直的方向，并沿轧制方向对试块做进一步的超声检测。热处理 后，所有表面应至少去除2mm。所有尺寸和表面粗糙度应符合图1要求。 5.4为了防止附加效应的产生，刻度槽的深度应为0.1mm士0.05mm；刻度槽的长度应为6mm，并且其位 置公差为士0.2mm。机加工完成后应进行最终超声检测。 6.5试块的纵波速度应为5920m/s士30m/s，横波速度应为3255m/s士15m/s
YD/T 814.5-2011 光缆接头盒 深海光缆接头盒脚跟试块上应按图1做永久性参考标记： 生产商商标； 一本标准号： 一唯一的序列号。
调节时基线时，应将相继回波的前沿（左侧边）调整到与仪器屏幕对应的刻度相一致。脉冲传播时间取 决于被检材料中的超声波波速。
直探头校准不大于250m
探头在校准试块反射面上的放置位置应按图2a）的示意；校准范围为100mm时荧光屏（A扫描）上的显示 应按图2b）示意图 注：当校准距离大于10倍的试块厚度时可能会出现困难，这取决于所用的探头和频率
a）探头在校准试块上的位置
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图2用直探头校准不大于250mm的时基线
探头校准不大于250mm
曲面斜探头校准RCos（β）+30或RCos（β）+60的时基线 检测斜探头在校准试块上的位置按图3a）（用于RCos（β）+30校准距离）和图3b）（用于RC 0校准距离）。图3a)和图3b）也给出了这两种校准范围的仪器荧光屏显示示意图
8.2灵敏度设置和探头校验
多因素会影响灵敏度设置（见附录A中A.3）
a）用于RCos（βB）+30校准范围
b）用于RCos（β）+60校准范围 图3曲面检测斜探头在校准试块上的位置
图3曲面检测斜探头在校准试块上的位置
探头应置于图4a）所在的位置。灵敏度的设置应以A扫描中显示的连续回波作为参考基准。也可将探
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8.2.3.1灵敏度设置
图4直探头灵敏度设置
分别利用声程为RCos（β）+30和RCos（β）+60的两个反射面进行灵敏度设置。校验探头时 个重要因素，当进行探头之间的比较时，应使用相同的耦合介质。 a)使用经校准的增益调节器，先将来自于反射面的回波调到屏幕高度的80%，然后再将其调 的水平。 b)不用增益调节器，利用来自于圆周面的单次回波调节灵敏度（见图5、图6)
8.2.3.2曲面探头入射点位置的测定
图5曲面检测斜探头不用增益调节器进行灵敏度设置
曲面检测斜探头不用增益调节器进行灵敏度设
曲面斜探头应按图7放置，并在校准试块倒角2mm或1mm上前后移动，直到来自于倒角面的 度达到最大。 时探头入射点与试块上倒角的中心重合。
3.2.3.3声束角度的测定
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用间隙的矩形槽面或试块底面的回波测定声束角度。将曲面斜探头在校准试块圆周面上平行移动，直 到来自于矩形槽面或试块底面的反射回波幅度达到最大。声束角度可以直接从校准试块上与探头入射点重 合的刻度值上读得，当探头入射点与刻度线不重合时也可以采用插值法获取。图8所示的这些位置可用于 测定20°至80°的曲面斜探头。
对于每一块试块，制造商都应发布一份证书以说明： a）该试块符合本标准； b）所测得的纵波声速平均值：V1： c）所测得的横波声速平均值：Vs
图7曲面斜探头入射点测定
图8曲面斜探头声束角度测定
“非小型”探头校准的试
QDWY 0001S-2013 云南滇王驿农业科技开发有限公司 薄壳核桃A.2最终机加工前后的材料超声检测
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附录A （规范性附录） 校准试块的特性和用途
用纵波探头（晶片直径10mm，频率6MHz）进行两次检测： a）将探头按图2a)放置，第四次底面回波的波幅应比后面出现的、由晶粒结构产生的噪声高出至少 50dB。 b）在材料均匀性方面，不应有波幅大于晶粒散射波幅的缺陷
A.3设置灵敏度需考虑的因素
设置灵敏度时宜考虑下列因素，它们可分为四大类： a）设备：脉冲能量、频率、脉冲波形、放大率等； b）所用探头：种类、尺寸、声阻抗、晶片阻尼、声场极值分布图等； c）被检材料：表面状态（与耦合有关)，材料种类(吸收性)等； d）缺陷分析：形状、取向、性质等。
设置灵敏度时宜考虑下列因素，它们可分为四大类： a）设备：脉冲能量、频率、脉冲波形、放大率等； b）所用探头：种类、尺寸、声阻抗、晶片阻尼、声场极值分布图等： c）被检材料：表面状态（与耦合有关)，材料种类(吸收性)等； d）缺陷分析：形状、取向、性质等
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QJ 1193.53-1988 人事系统数据元 国外学校及教学单位名称代码本标准负责起草单位：南京迪威尔高端制造股份有限公司。 本标准参与起草单位：中国特种设备检测研究院、山东瑞祥模具有限公司、钢研纳克检测技术股份有限公 司、常州超声电子有限公司、卡麦隆（上海）机械有限公司。 本标准主要起草人：陈昌华、张利、郑阳、侯金刚、魏忠瑞、马建民、范弘、张建卫、潘振新、肖潇、 尹述港、彭意豪。