JCT 2512-2019 全固态激光器用高抗灰迹磷酸钛氧钾单晶元件技术要求

JCT 2512-2019 全固态激光器用高抗灰迹磷酸钛氧钾单晶元件技术要求
积分0.00
特惠
积分0
VIP全站资料免积分下载
立即下载
同类资料根据编号标题搜索
文档
仅供个人学习
反馈
标准编号:
文件类型:.pdf
资源大小:1.5M
标准类别:建筑工业标准
资源ID:230232
VIP资源

标准规范下载简介:

内容预览由机器从pdf转换为word,准确率92%以上,供参考

JCT 2512-2019 全固态激光器用高抗灰迹磷酸钛氧钾单晶元件技术要求

JC/T 25122019

a 镀制1064nm减反膜和532nm减反膜时,1064nm减反膜膜层的剩余反射率R应不大于0.2%, 532nm减反膜膜层的剩余反射率R应不大于0.5%; b 镀制1064nm高反膜和532nm增透膜时,1064nm高反膜的反射率R应不小于99.8%,532nm 增透膜的透过率T应不小于97%; 客户有要求时,按照客户要求。

4.2.11膜层牢固度

NY/T 2553-2014 椰子 种苗繁育技术规程4.2.12抗激光损伤阐值

单晶元件抛光表面及内部抗激光损伤阈值应不小于1GW/cm,镀膜表面抗激光损伤阀值应不 0MW/cm。

4.3.1特定波长吸收率

4.3.2绿光诱导红外光吸收率的增长率

单晶元件对1064nm激光吸收率每分钟的增加量应小于1.5×10°/cm。

洁净等级10000级。 环境温度(23±2)℃。 相对湿度(50±5)%。 检验方法中另有要求的,按照检验方法的要求。

5. 2. 1测试原理

利用单晶元件内部的包络、气泡等缺陷对激光束的散射作用,观测单晶元件内部质量。当激 件的光路被散射变粗或出现发散光,表明元件存在包络、气泡等缺陷,

5. 2. 2测试条件

样品:单晶元件的激光入射面、出射面抛光。 环境:在暗室内测量。

固态激光器(波长532nm,功率5mW~10mW,光斑直径大于或等于2mm),三维调节平台,带 50倍显微镜。

5. 2. 4 测试步骤

JC/T25122019

5.2.4.1将单晶元件放置于激光器检测光路中,使元件侧面与激光光束垂直。 5.2.4.2通光调整三维调整台,使激光光束相对于元件侧面作两维扫描,相邻扫描点的间隔为1mm。 5.2.4.3扫描过程中用带标尺的显微镜观察元件通光区域,如发现有散射点,记录其个数、位置及 大小。

按GB/T224532008中5.2的规定。

按GB/T11297.1规定的方法测定。

数显测长仪(量程100mm,精度为0.01mm)。

5. 5. 2 测试步骤

测试样品台上铺一层电容纸,将测长仪调零 轻轻压任单晶元件,测量尺寸。注意用力不 能过大,以防破坏单晶元件。测通光面时, 层电容纸再进行测量。

按GB/T22453—2008中5.11的规定。

按GB/T22453—2008中5.12的规定。

按GB/T22453—2008中5.9自

按GB/T29420—2012中5.3.8的规定。

按GB/T22453—2008中5.14的规定。

5.14镀膜的光学性能

安GB/T22453—2008中5.6的规定

按GB/T29420—2012中5.3.10的规定。

GB/T29420—2012中5.3.10的规定

5.16抗激光损伤阅值

按JC/T2513的规定。

6.1.1.1出厂检验项目为4.1.1、4.1.3、4.2.14.2.10、4.3。

6. 1.2 型式检验

JC/T25122019

型式检验项目为本标准所要求的全部项目。 1.2.2在保证产品质量的前提下,正常生产时,每六个月至少进行一次型式检验;有下列情况之 , 也应进行型式检验: a)产品定型鉴定或产品转厂生产时; b) 正式生产后,如设备、原材料、工艺有改变,可能影响产品质量时: 出厂检验结果与最近一次型式检验结果有差异时; d) 停产半年以上恢复生产时; e客户要求进行试验的

由同批原料在同一生产和加工工艺条件下制成的产品为一批。

在待测的样品中随机抽取5%,至少5件,少于5件全检。其中,4.2.10镀膜的光学性能的抽样方 案为检测相应加工批次的磷酸钛氧钾随镀片。

检验结果符合本标准要求的,则判定该产品为合格。检验数量为5件及以下的批次,如有不合格项, 则判定该产品不合格;检验数量为5件以上的批次,如有不合格项,可自同批产品中加倍抽样,对不合 格项进行复检。复检结果如全部合格,则该产品为合格品;复检结果如仍有不合格,则判定该产品为不 合格品。

GB/T 10596-2011 埋刮板输送机JC/T25122019

7包装、标志、运输和贮存

7包装、标志、运输和购存

7.1.1包装时,产品应在超净工作台内擦拭干净后装入包装盒,并用双面胶条将其固定在包装盒近中 心位置,通光面不应直接接触包装物,然后将包装盒放入硬质纸箱包装。包装应密封、洁净、防潮、防 震、防静电、抗冲击。 7.1.2包装箱内应有装箱单、合格证和检测报告。装箱单应标明:单晶元件种类、数量、尺寸、切割 角度、镀膜指标、生产厂名、合同号等。

7.2.1晶体元件包装盒上应贴上标签,标注生产厂名或商标、产品名称、规格、切割角度、出厂日期, 对于镀膜元件,还应标明膜系、剩余反射率或高透透过率等膜层参数。 7.2.2产品外包装上应标明:生产厂名、厂址;产品名称、数量;执行标准编号;生产日期、保质期; “小心轻放”、“防潮”、“易碎”等注意事项。 7.2.3对于出口的产品,除需方特别声明外,应有英汉对照的包装标签

产品在运输过程中应轻装轻卸, 不应通和价压 并采取防震防潮等措施。

产品保质期为自交付之日起1年。产品存放环境要求:相对湿度应不大于55%GB/T 34588-2017 重型商用车辆 转弯制动 开环试验,应避免与酸碱及 其他腐蚀性物质接触

©版权声明