GB／T 35033-2018 标准规范下载简介：

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GB／T 35033-2018 30MHz～1GHz电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量方法

测试系统通由测量设备利测量装置构成，测量回路阻抗应为502， 测量设备主要为信号发生器和接收机或量网络分析仪，测量装置见7.3所述。 测试系统应有足够的信噪比（不小于30dB）

测试系统通常由测量设备利测量装置构成，测量回路阻抗应为502。 测量设备主要为信号发生器和接收机或量网络分析仪，测量装置见7.3所述， 测试系统应有足够的信噪比（不小于30dB

可采用正弦波信号发生器。如果其他类型的信号发生器在其所使用的频段内能够输出均 频谱，也可以使用之（如噪声信号发生器或者脉冲信号发生器），但此时，所使用的接收机应具 选择性和杂散抑制能力。信号发生器的阻抗应为50Q。

可使用有“选择性”的接收机（应至少在第一级放大前有一个谐振电路）。如果测试用信号发生器 谐波和非期望的频率成分足够小、且在评估测量不确定度中加以考虑的情况下，也可以使用“无 生”的接收机。接收机的阻抗应为502

DBS54 2001-2017 食品安全地方标准 风干牛肉7.2.3矢量网络分析仪

推荐使用具有以下参数的矢量网络分析仪作为测量设备以代替7.2.1和7.2.2所述的信号发生 接收机，具体参数要求如下

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频率范围：30MHz1GHz 特性阻抗：50Q； 应有足够的动态范围来进行测量，推荐显示动态范围：≥80dB； 动态范围：在开路状态下，量网络分析仪在中频带宽≤10Hz时，动态范围≥90dB。 应能选择适于测量频率范围内使用的线缆、连接器、适配器等，应按规定扭矩固定连接器 注：使用合适的扫描信号发生器以及同步调谐的接收机或者矢量网络分析仪可以大大地简化测量程序。S参数的 特性可以在显示器上观测得到或自动记录

频率范围：30MHz1GHz； 特性阻抗：50Q； 应有足够的动态范围来进行测量，推荐显示动态范围：≥80dB； 动态范围：在开路状态下，量网络分析仪在中频带宽≤10Hz时，动态范围≥90dB。 应能选择适于测量频率范围内使用的线缆、连接器、适配器等，应按规定扭矩固定连接器 注：使用合适的扫描信号发生器以及同步调谐的接收机或者矢量网络分析仪可以大大地简化测量程序。S参数的 特性可以在显示器上观测得到或自动记录

7.3.1测量装置的基本要求

测量装置应满足以下要求： a) 测量装置需能实现附录A原理的测量： b) 测量装置应满足附录B中校准程序的要求； C) 测量装置能在没有样品的情况下实现附录A中图A.2测量原理等效电路图中的A、B（代表 图4测量装置的上金属片和下金属片)两点之间的短路； d) 测量装置的屏蔽测量腔体可为空心屏蔽圆柱体，并可实现样品放人测量部分； e) 测量装置中实现测量部分的圆柱体尺寸，可根据测量装置实现的样品尺寸范围而定； f) 可将样品放入附录A原理图A.2中的A、B两点之间实现测量，并可以将测量信号注人在A、B 两点之间，同时也可实现A、B两点之间的电平测量； 测量装置需要有压力施加装置，可以实现测量时的压力调节和压缩位移量的读取： h）压力范围.0N~30N

7.3.2测量装置示例

测量装置主要由压力部件、机械支撑部件和测量部件组成。 压力部件主要实现测量时的压力调节和压缩位移量的读取。压力测量装置和压力杆组成压力部 件，可进行压力调节。以使测量在确定的压力下的材料接触阻抗，增加测试的准确性和一致性。 机械支撑部件用于是实现整个测量装置的机械支撑 测量部件的组成部分见图4（测量金属材料）与图5（测量金属屏蔽材料）。其主要功能如下： a）上屏蔽腔体和下屏蔽腔体两部分构成屏蔽测量腔体，屏蔽腔体用于屏蔽外界电磁干扰，防止对 测试结果产生影响，提高测试一致性； b) 注入探针和接收探针应与上金属片搭接。注入探针、信号注入端口和接收探针、信号接收端 用于传输测量信号实现阻抗测量； c）上金属片固定在上屏蔽测量腔体下表面。下金属片固定在下屏蔽测量腔体上表面，且中心位 置穿孔。 该测量装置可分为注入回路和测量回路。注入回路由信号注人端口、注人探针、上金属片、被测试 样、下金属片、上屏敲腔体和下屏蔽腔体组成，测量回路由信号接收端口、接收探针、下金属片、上屏蔽腔 体和下屏蔽腔体组成。 该测量装置能有效的解决注入回路与测量回路之间的感性耦合、上屏蔽腔体和下屏蔽腔体之间的 低阻抗连接、探针与屏蔽测量腔体之间的低阻抗连接

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图4搭接阻抗测量装置示意图

8测试系统的校准和有效性确认

图5屏蔽材料导电性能测量装置示意图

本标准仅规定了502/502系统的测试方法。这意味着所有测试电路的阻抗，包括信号源阻抗、传 输线阻抗、接收机阻抗或矢量网络分析仪阻抗均应为502。 测量装置指标校验程序见附录B。 在电磁屏蔽材料测量时，测量装置中上金属片和下金属片可使用黄铜片或导电性能更好、稳定性更 高的金属材料。 连接至信号发生器、接收机或矢量网络分析仪的线缆和测量装置会影响测量结果，应通过校准以消 除这些影响。可通过8.2所述的方法对测试系统进行校准。 所有的测试设备（矢量网络分析仪、信号发生器、接收机、线缆等）均应进行校准且能溯源到国家校 准基准。 应对电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量测试系统进行整体评估，以证明其满足相关 要求。该测试系统包括测量装置（用来放置被测样品的屏蔽壳体、压力测量装置、机械固定装置）、测量

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设备、线缆等。 当被测样品不具有50Q的阻抗，对阻抗不匹配的DUT，需要通过必要的验证来确认该测试系统的 有效性。

测试系统校准应按照以下程序进行： a）将端口1的电缆按照图6a)的连接方式连接标准校准件，按下校准键按钮，开始校准后选择 502端口，进入测试校准界面，标准校准件需在开路、短路和匹配三种模式下校准，校准完成 后将标准校准件取下； b 矢量网络分析仪的端口1电缆及端口2电缆按照图6b）的连接方式连接，为避免测试电缆及 相关附件对测试结果的影响，测试系统的校准应校准到测量装置的信号注人端口与信号接收 端口。选择矢量网络分析仪的直通模式，曲线显示值为零（即将两条电缆的衰减值归零），校 准完成

注：图中两连接器之间电缆部分为测量装置中安装的同

a）标准校准件连接示意图

b）矢量网络分析仪端口电缆连接示意图

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8.3测试系统有效性的确认

测试系统的有效性应通过对规定阻值（2)的测试电路进行一系列的测量来加以确认，如图7所示。 测试A的测量结果可以表明：当端接50Q阻抗（测量接收机提供的阻抗)时，射频信号发生器输出 电压是否等于开路电压的一半。 测试B的测量结果可以表明：射频信号发生器具有向低阻抗DUT是否能够提供足够输出电流的 能力。 测试C的测量结果可以表明：测量接收机是否具有足够的动态范围。 对于上述的每一项测试，测量结果均应在表1规定的允差范围内

图7验证测试系统有效性的测试电路框图

表1测试系统的有效性确认的条件和要求值

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测试系统应在确认结果满足表1要求的频率范围内使用，此时，V。是信号发生器G的电动势 [e.m.f,单位为伏特(V)];V²是测量接收机的终端电压。R，和R²的值可能会随着频率和DUT的不 同而变化

测试布置示意图见图8

9.2电磁屏蔽材料导电性能的测量方法

电磁屏蔽材料导电性能测量步骤包括： a) 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端，另外一端连 接至端口1（见图8）； b) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； c) 将电磁屏蔽材料样品放在上金属片和下金属片之间（见图4）； d）注人探针从下金属片中心孔伸出来，形成注人回路； e) 将上屏蔽腔体和下屏蔽腔体固定； 将测量装置压力调为零，并记下此时测试装置上的位移刻度值，此刻度值时代表压缩位移量 为零； 调整电磁屏蔽材料的压缩位移量，并保存S21曲线读值； h） 根据附录A给出的Z的计算公式，计算得出Z。 电磁屏蔽材料导电性能测量示例参见附录C中C.1。

9.3金属材料的搭接阻抗的测量方法

金属材料的搭接阻抗的测量过程包括： 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端，另外一端连 接至端口1（见图8）； 将失量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； c 金属材料样品，应替换图4中的上金属片和下金属片：

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注入探针从下金属片中心孔伸出来，形成注入回路； 将上屏蔽腔体和下屏蔽腔体固定； 施加压力，并保存S21曲线读值； g 根据附录A给出的Z.的计算公式，计算得Z2。 金属材料搭接阻抗测量示例参见附录C中C.2

试验报告应包括能重现试验的全部信息，应至少包含以下内容： 测试系统（测量设备和测试装置）； 环境条件：温度，湿度等； 所选择的校准/确认方法； 待测样品详尽的描述，如制造商信息和辅助设备的标识（如有），例如商标名称产品型号、序列 号材料、规格： 确保实验进行所需的任何特定条件； 测量前样品照片，并标注外形尺寸、厚度； 测试压力和电磁屏蔽材料的压缩量； 测试S2曲线； 计算结果Z； 测试日期和时间； 测试人员的姓名和职位； 测试所依据的技术标准和/或规范

A.1矢量网络分析仪示意图

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矢量网络分析仪由信号源、定向耦合器、接收机三部分构成，如图A.1所示。信号源发出信号，通 过定向耦合器，通过端口1将信号注入到被测试验，接收机可测量该电路中的各个节点的信号。如果将 接收机连至定向耦合器正向输出（a），则测出注入到样品的信号V。；如果将接收机连至定向耦合器反向 输出端（c），则测出样品反射的信号V。；如果接收机连至端口2（b），则测出经样品衰减后的信号Vb。 矢量网络分析仪所测得的S，为V、与V.之比

A.2搭接阻抗Z.的计算公式

图A.1矢量网络分析仪示意图

电磁屏蔽材料导电性能（即电磁屏蔽材料阻抗）和金属材料的搭接阻抗的测量原理等效 图A.2所示：

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说明： 信号源的内阻50α； 接收机的测试阻抗50α； Z,——被测样品阻抗（远小于50Q)； Vs信号源电压。

说明： Z,——信号源的内阻50α； Z2——接收机的测试阻抗50α； Z,——被测样品阻抗（远小于50Q)； Vs信号源电压。

1.1)和式（A.2)代人S2的计算公式可得式（A.3）：

通过式（A.3)的推导可得式（A.4）

图A.2测量原理等效电路图

..............(A.1)

按图A.2原理实现的测量装置，要实现测量界面在测量频段范围内为电小尺寸，若无法实现，则可 在被测样品阻抗前串联502匹配电阻（如图A.3所示），以实现被测样品阻抗的测量，该原理所示的测 量装置，其所测得的S21比图A.2原理所示测量装置所测得的S21小6dB

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说明： Z1 信号源的内阻50α； Z2 接收机的测试阻抗502； Z1 被测样品阻抗（远小于50Q2） Vs 信号源电压

图A.3串联50Q之后测量原理等效电路图

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本附录B.2～B.7规定了测量装置的相关指标的校验程序，包含短路性能、开路性能、压力测试精度 和测量一致性

本附录B.2～B.7规定了测量装置的相关指标的校验程序，包含短路性能、开路性能、压力测试精度 和测量一致性

B.2短路性能校验程序

短路性能校验的目的，是为了验证上金属板与下金属板直接短路时，测量装置及测量仪器 测试系统背景噪声足够低

短路性能校验程序应按照以下步骤进行： a）按8.2进行测量仪器校准； b） 直接读取矢量网络分析仪自身的背景噪声并保存； C） 将短路测试校准件（厚度2mm，直径100mm的黄铜件，中心位置处开槽，开槽深度1mm，开 槽直径4mm，见图B.1)放人屏蔽测量腔体内，代替图4中的上金属片和下金属片，并使得注 人探针处于开槽位置； 注：测试校准件可视为两个厚度为1mm，直径100mm的黄铜件上下处于理想短路状态。 d）> 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端，另外一端连 接至端口1（见图8）； e) 将失量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； f)记录测试结果S.

短路测试用标准件金属术

B.2.3校验结果要求

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图B.2短路性能校验结果符合要求的一个示例

B.3开路性能校验程序

B.3短路性能校验结果不符合要求的一个示例

开路性能校验的目的是为了验证测量装置中的上金属板与下金属板不直接接触时，测量 上金属板与下金属板距离的变化而变化（上金属片与下金属片之间产生的寄生电容，容值随距 关系）

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开路性能校验程序应按照以下步骤进行： a）根据8.2进行测量仪器校准； b) 将厚度为0.2mm的开路校准件放入屏蔽测量腔体内，位于上金属片与下金属片之间，测量装 置的注人探针针头需刺破绝缘垫与上金属片接触； 注：开路校准件为直径100mm，中间开孔，开孔直径4mm的圆形绝缘体，如聚四氟乙烯。 c) 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注入端，另外一端连 接至端口1（见图8）； d) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； e) 调整测量装置的压力部分，使得测试压力为10N； f) 读取并保存数据S21； 按照测试方法c)～f)，用厚度为0.4mm的开路校准件替换c)中的厚度为0.2mm的开路校 8) 准件； h) 按照测试方法c)～f).用厚度为0.6mm的开路校准件替换c)中的厚度为0.2mm的开路校 准件

B.3.3校验结果要求

开路校准件厚度越厚，其上金属板与下金属板的电容值就越小，其容抗就越高，因此，测 S2就越大。按照B.3.2的校准程序得到测量值需反应这一规律。图B.4是开路性能校验结 示例

B.4电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性

图B.4开路性能校验结果的一个示例

电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性校验的目的是为了验证测量装置在测量电磁屏蔽材料导 时，其他测量条件一致的情况下，测量结果随着电磁屏蔽材料压缩量的变化而变化，从而验证电 鼓材料压缩量与其导电性能的关系

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电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性校验程序应按照以下步骤进行： a） 根据8.2进行测量仪器校准； b) 在屏蔽测试腔体内放置电磁屏蔽材料（本示例样品厚为3mm，长为120mm的泡棉），位于上 金属片与下金属片之间，位于装置正中心成正方形摆放； 将失量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注入端，另外一端连 接至端口1（见图8）； d) 将失量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； 调整测量装置的压力部分，使得压缩位移量分别为0.3mm、1mm、2mm； f) 记录在不同压缩位移量下的测量结果S1。

B.4.3校验结果要求

压缩位移量越大，电磁屏蔽材料与上金属片、下金属片之间的接触面越大，测量得到的S21就越 照B.4.2的校准程序得到测量值需反映这一规律。图B.5是电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关 金结果的一个示例

B.5金属材料接触阻抗与压力相关性校验程序

金属材料接触阻抗与压力相关性校验的目的是为了验证测量装置在测量金属材料接触阻抗时，其 他测量条件一致的情况下，测量结果随着压力的变化而变化，从而验证金属材料接触阻抗与压力的 关系

金属材料接触阻抗与压力相关性校验程序应按照以下步骤进行： a）根据8.2进行测量仪器校准； b) 将金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件代替图4测量装置中的上金属片和下金 属片；

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注：金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件厚度为1mm，直径100mm的两种金属件，材质分别 为铜和镍，其中镍材质金属片为下金属片，中心开有直径为4mm的孔，铜材金属片为上金属片。 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注入端，另外一端连 接至端口1（见图8)； d) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； e 调整测量装置的压力部分，使得测试压力分别为0N、10N、20N压力； f) 记录在不同压力下的测量结果S21

B.5.3校验结果要求

测试压力越大，上金属片和下金属片间的接触点越多，两者之间测量得到的S21越小，按照B.5.2 准程序得到测量值需反映这一规律，图B.6是金属材料接触阻抗与压力相关性校验结果的一个示

电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验程

电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验的目的是为了验证测量装置在测量同一个样品时，测 量条件一致的情况下，测量结果偏差不超过6dB

电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验程序应按照以下步骤进行： a) 根据8.2进行测量仪器校准； 在屏蔽测试腔体内放置电磁屏蔽材料（本示例样品厚为3mm，长为120mm的泡棉），位于上 金属片与下金属片之间，位于装置正中心成正方形摆放； 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端，另外一端连 接至端口1（见图8）； d) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； e） 将测量装置的压力调整为10N

重复以上测量过程5次，分别记录测试结果Sz

B.6.3测试结果要求

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按照B.6.2的一致性校验程序得到的测 超过6dB（测量结果最大值与最小值之间 直，见图B.8），图B.7是电磁屏蔽材料导电性能 一致性校验的一个示例

8.7电磁屏蔽材料导电性能测试结果一致性示例

B.7金属材料搭接阻抗测量结果一致性校验程序

电磁屏蔽材料导电性能测量结果最大值与最小值

金属材料搭接阻抗测量结果 则量条件一致的情况下，测量结果偏差不超过6dB

金属材料搭接阻抗测量结果一致性校验程序应按照以下步骤进行：

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a 根据8.2进行测量仪器校准； b） 将金属材料接触阻抗一致性校验的标准校准件代替图4测量装置中的上金属片和下金属片； 注：金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件厚度为1mm，直径100mm的两种金属件，其中上金 属片为铜金属片，下金属片为电解板片，电解板片中心开有直径为4mm的孔。 C） 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端，另外一端连 接至端口1（见图8)； d) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端，另外一端连接 至端口2（见图8）； 将测量装置的压力调整为10N； 重复以上测量过程5次，分别记录测试结果S21

B.7.3测试结果要求

图B.9是金属材料接触阻抗测量结果一致性校验的一个示例GJB 6260-2008 飞机发动机催化点火燃油控制器定时器规范，按照B.7.2的一致性校验程序得 量结果偏差不超过6dB（测量结果最大值与最小值之间的差值，见图B.10）

图B.9金属材料接触阻抗测量结果一致性校验的一个示例

图B.10金属材料接触阻抗测量结果最大值与最小值之间的差值

C.1电磁屏蔽材料导电性能测量示例

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GB/T 31258-2014 滑索通用技术条件附录C （资料性附录） 电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量示例

以下是两种电磁屏蔽材料的导电性能测试结果示例，图C.1是一种导电泡棉的导电性能测试结果 示例.图C.2是一种金属簧片的导电性能测试结果示例

LC.1 一种导电泡棉的导电性能测试结果示例