GB/T 18910.203-2021 液晶显示器件 第20-3部分:目检 有源矩阵彩色液晶显示模块.pdf

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标准编号:GB/T 18910.203-2021
文件类型:.pdf
资源大小:4.7 M
标准类别:电力标准
资源ID:271585
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GB/T 18910.203-2021标准规范下载简介:

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GB/T 18910.203-2021 液晶显示器件 第20-3部分:目检 有源矩阵彩色液晶显示模块.pdf

三个相邻亮子像素缺陷示例

)三个相邻亮子像素缺陷示例

暗子像素缺陷darksubpixeldefect 当显示亮态图像时,屏幕上呈现暗态的缺陷。 示例:图3a)给出了单一的红、绿、蓝暗子像素缺陷的示例,图3b)给出了水平或垂直像素区域内的两个 的暗子像素缺陷的示例,图3c)给出了水平或垂直像素面积内 相连的暗子像素缺陷的示例

SN/T 5140-2019 出口动物源食品中磺胺类药物残留量的测定三个相邻暗子像素缺陷示保

RGB三原色显示下暗子像素和相邻暗子像素缺

中间态子像素缺陷intermediatesubpixeldefect 当显示亮态图像或暗态图像时,屏幕上呈现中间水平的子像素缺陷。

聚集子像素缺陷clustersubpixeldefect

在指定区域或指定距离范围内由不少于两个子像素的多个子像素缺陷聚集成簇的缺陷类型。 示例:图4a)和图4b)给出了聚集亮子像素缺陷和暗子像索缺陷的示例,并明确了缺陷之间的最小距离。“d”和 d.”代表水平和垂直的最小距离

高子像素缺陷到亮子像素缺!

线缺陷linedefect 当显示暗态或亮态图像时,出现的水平或垂直方向的亮线或暗线。 3.2.7 亮线缺陷brightlinedefect 当显示暗态图像时,出现在屏幕上的亮线。 3.2.8 暗线缺陷darklinedefect 当显示亮态图像时,出现在屏幕上的暗线。 3.2.9 划痕和凹痕缺陷 scratchanddentdefect 在有效显示区域内位于偏光片或其他光学元件上方或下方的缺陷, 3.2.10 划痕缺陷scratchdefect 在较暗的背景下能被看见的大小不发生变化的亮(白)线。

D暗子像素缺陷到暗子像素缺陷

图4子像素缺陷最小距离示例

3.2.11 凹痕缺陷dentdefect 在较暗的背景下能被看见的大小不发生变化的亮(白)点。 3.2.12 异物缺陷foreignmaterialdefect 位于面板和背光单元之间的外界杂质。 3.2.13 气泡缺陷bubbledefect 在粘贴偏光片或反射板时,由于液晶材料中的空隙或气体导致的缺陷 3.2.14 漏光缺陷lightleakagedefect 遮光区域内机箱外壳和显示区外黑色矩阵之间能被看见的光。 示例:图5给出了漏光缺陷的示例

DUT.被测试器件(deviceundertest)

且检应在GB/T18910.102一2021第4章规定的温度和湿度下进行。

图5机箱外壳和显示区外黑色矩阵之间的漏光缺陷示例

4.1.2.1视角范围

且检应在液晶显示模块规定的视角范围内进行。

4.1.3.1被测器件的驱动电压或电流

应给被测器件提供规定的驱动电压或电流。

测试图应在详细规范中说明,例如:目检的测试图为全屏指定亮度下的黑、白、灰以及红绿蓝三原 成的图形等。

4.2.1检查设备和液晶显示模块的设置

DUT使用可旋转的夹具进行固定,使其能在水平和垂直的视角范围内转动。或者固定DUT,检验 员围绕其进行检查。 打开直流电源及信号发生器预热至稳定,给DUT输入驱动电压及测试图。DUT的预热时间应足 够长,以获得进行视觉检查的稳定信号

4.2.2检验员和限度样品

检验员应具有正常的(矫正)视力、正常的色觉,并通过指定限度样品进行定期培训,以便准确地 视觉检查

4.2.3检查结果记录

检验员应按照规定的程序进行目检,并根据规定的检查条件将检查结果记录在记录表上。

4.3.1亮子像素缺陷

应在相关规范中规定亮子像素缺陷的最大数值。 一个子像素:在详细规范中规定; 相邻的子像素:在详细规范中规定; 亮子像素的总数:在详细规范中规定

4.3.2暗子像素缺陷

应在相关规范中规定暗子像素缺陷的最大数值。 一个子像素:在详细规范中规定; 相邻的子像素:在详细规范中规定; 暗子像素的总数.在详细规范中规定

应在相关规范中规定暗子像素缺陷的最大数值。 一个子像素:在详细规范中规定; 相邻的子像素:在详细规范中规定; 暗子像素的总数:在详细规范中规定

4.3.3中间态子像素缺陷

应在相关规范中规定中间态子像素缺陷的最大数值。 一个子像素:在详细规范中规定; 相邻的子像素:在详细规范中规定; 子像素的总数:在详细规范中规定

4.3.4聚集子像素缺陷

应在相关规范中规定聚集子像素缺陷的最大值。并规定子像素缺陷之间的最小距离(图4中的 和d)。 聚集子像素在详细规范中规定

任何水平、垂直或交叉方向的暗线都是不允许自

4.3.7划痕和凹痕缺陷

表1和图6给出了划痕和凹痕的判定标准,符号α和b表示偏光片缺陷的长轴和短轴。可以被清 除的异物NY/T 2795-2015 苹果中主要酚类物质的测定 高效液相色谱法,如指纹、颗粒等不被视为缺陷,位于黑色矩阵(有效显示区域以外)上的划痕和凹痕不被视为 缺陷。

表1划痕和凹痕的判定标准

图6划痕和凹痕的缺陷形状

4.3.8异物和气泡缺陷

表2和图7给出了位于被测器件内部的异物,如粉尘或纤维,以及气泡,如空气或其他气体的判 。

YD/T 3318-2018 运营商可信服务管理平台与提供NFC接入的应用系统间接口技术要求表2 异物和气泡的判据

图7异物和气泡的缺陷形状

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