JJF 1941-2021 光学仪器检具校准规范.pdf

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JJF 1941-2021 光学仪器检具校准规范.pdf

图4屋椎杆结构示意图

标准芯轴是一种圆柱工作面中心线与两顶尖孔中心连线重合的计量器具,主要用

测量工具显微镜、分度头、跳动检查仪、齿轮测量中心等仪器两顶针轴线与导轨移动方 向的平行度。 标准芯轴常见的直径规格有Φ20mm,Φ30mmDB37T 4060-2020 氢燃料电池电动汽车运行规范,Φ40mm等;长度规格有 L200mm、L300mm、L400mm和500mm等,标准芯轴结构示意图如图5所示。

图5标准芯轴结构示意图

四方体是一种具有四个工作直角的计量器具,主要用于测量工件或导轨的角度和垂 直度,如工具显微镜配置的光学分度头的示值误差及读数、测量显微镜纵横向滑板移动 的相互垂直度,也常用于调整测角仪器工作台对回转轴的垂直性。 四方体一般以其边长为型号规格。常见的型号规格为70mm×70mm等,结构示 意图如图6所示,

偏心轴是一种圆柱工作面轴线(工作轴线)与两顶尖孔中心连线(基准轴线)有 定偏移的计量器具,主要用于测量跳动检查仪的示值误差。 偏心轴以偏心量e为型号规格,e通常为20um~30μm,其结构示意图如图7 所示。

图7偏心轴结构示意图

专用玻璃刻线尺是一种以刻线间距为工作长度的线纹计量器具,刻线面的相对面为 基面,主要是用于测量投影仪放大倍数。 专用玻璃刻线尺通常由采用玻璃材料制成,一般以最大工作长度为型号规格。常见 的型号规格有200mm,300mm,400mm,410mm,500mm,600mm等,专用玻 璃刻线尺的结构示意图如图8所示

4.1.1工作面的表面粗糙度

工作面的表面粗糙度要求参照表1.

图8专用玻璃刻线尺示意图

1四棱平尺工作面的表面粗糙度和平面度要求

4.1.2工作面的平面度

侧工作面间平行度一般不大于2u

侧工作面间平行度一般不大于2um。 4.2刀口直角尺

工作面的表面粗糙度一般不大于Ra0.1um。

侧面的表面粗糙度一般不大于Ra0.8um

4.2.2刀口型工作棱边直线度

刀口型工作棱边直线度一般不大于1um。 4.2.3工作角偏差 工作角(90°)偏差一般不超过士5”。 4.3土字线芯轴

4.4.3工作面圆跳动

圆柱工作面的径向圆跳动、圆锥工作面的斜向圆跳动和定位面的端面圆跳云 超过2um。

母线直线度一般不超过2um。

直径变动量值一般不超过2um。

4.6.2工作面的平面度

工作面对基准面的垂直角度偏差一般不起

工作角(90°)偏差一般不超过士2"。

4.7.1工作面及顶尖孔锥面的表面粗糙度 圆柱工作面、芯轴外圆柱面及顶尖孔锥面的表面粗糙度一般不大于Ra0.1 4.7.2圆柱工作面母线直线度 圆柱工作面母线直线度一般不超过1um。

圆柱工作面轴线与两顶尖孔中心连线的偏心量一般为(20~30)um。 4.8专用玻璃刻线尺

4.8.1刻线面对基面的平行度

4.8.2工作长度偏差

任意刻线相对于0刻线的工作长度偏差一般不超过士30μm。 主:以上指标不是用于合格性判别,仅供参考。

表2光学仪器检具校准的环境条件

5.1.2相对湿度:实验室内的相对湿度不大于70%

5.1.2相对湿度:实验室内的相对湿度不大于70%。

5.1.3实验室内应无影响测量的灰尘、噪声、振动、磁场和空气的扰动。

5.1.3实验室内应无影响测量的灰尘、噪声、振动、磁场和空气的扰动。

5.2测量标准及其他设备

推荐使用表3所列测量标准,其中有 标记的测量标准的型号规格可根据被测件 际长度而定。允许使用满足测量不确定度要求的其他测量标准及其他设备进行校准

表3光学仪器检具测量标准及其他设备

表3光学仪器检具测量标准及其他设备(续

表3光学仪器检具测量标准及其他设备(续

校准前应确认无影响校准正确性实施和校准结果的外观缺陷和各部分相互作用。

交准前应确认无影响校准正确性实施和校准结果的外观缺陷和各部分相互作用。

6. 1.1工作面的表面粗糙度

选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面粗糙度 样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面 的深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量。也可以用表面粗糙度测量仪测量

6.1.2工作面的平面度

用平面等厚干涉仪测量。将四棱平尺置于平面等厚干涉仪工作台上,调整工作台高 低位置,使目镜视场中出现干涉条纹。调整工作台水平倾斜旋钮使干涉带的两端和目镜 中十字分划线对准。读取干涉带宽度a和干涉带弯曲度6。工作面的平面度F按公式 (1)计算:

式中: a一干涉带宽度; 6一一干涉带弯曲量; 入一一所用单色光波长。 应分别测量主工作面和两侧工作面的平面度

式中: a 一干涉带宽度; 干涉带弯曲量; 入——所用单色光波长 应分别测量主工作面利

6.1.3侧工作面的平行度

将四棱平尺的一个侧面放在平板上,用测微计在另一个侧面整个工作面上测量,取 最大值与最小值的差值作为平行度的测得值。 测量时,应分别测量B面对C面和C面对B面的平行度,取两者中的较大值为两 侧工作面平行度的测量结果

选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面粗糙度 样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面 的深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量

争议时以表面粗糙度测量仪测量结果仲裁

选择五倍物镜,在方能工具显微镜上用狭缝对线法测量。测量前应使方能工具显微 镜的测角目镜置于0°位置。 将四棱平尺安装在万能工具显微镜玻璃工作台上,并调整四棱平尺,使其侧工作面 与仪器纵向滑板运动方向的平行度误差在3um以内。然后,将刀口直角尺放在工作台 上,其一条工作棱边靠紧四棱平尺,在另一条工作棱边上进行测量,安装位置如图9 (a)所示。 测量时,先移动纵横向滑板至位置I处,记录I点右侧坐标值(1,y1);再移动 潢向滑板(纵向滑板不动)至位置Ⅱ处,记录Ⅱ点右侧坐标值(2,y2);然后,将刀 直角尺翻转180°,安装位置如图9(b)所示,移动纵向滑板(横向滑板不动)至位 置Ⅱ处,记录Ⅱ点左侧坐标值(x2,2);再移动横向滑板至位置1处,在位置I处进 行测量,记录I点左侧坐标值(1,y1)。 在图示坐标系中,可按公式(2)对刀口直角的工作角偏差进行计算

△α一一刀口直角尺的工作角偏差,("): △.r一I、I点相对差值,um; L一一横向导轨移动的行程,mm。 取至少3次测量的平均值作为测量结果。当刀口直角尺工作角α大于90°时,△α为 正值,否则为负值。 应用上述方法测量时,应注意以下事项: 1)测量前应将刀口直角尺平放在万能工具显微镜工作台上,在正反两面观察,都 应能看到棱边全长清晰的影像。 2)放置刀口直角尺时,应使接近100mm的边作为测量边,对于200mm× 100mm的刀口直角尺,可使其长边靠紧四棱平尺;对于100mm×63mm及以下的刀 口直角尺,可使其短边靠紧四棱平尺。靠紧面不应漏光。 3)为保证L值尽量大,1、Ⅱ点应尽量靠近口直角尺端部位置,同时需避开端 部倒角的影响,一般取距离端部(13)mm位置;为了简化计算,可取L为整数值。 4)翻面测量时,刀口直角尺靠紧四棱平尺的位置应与第一次一致,以消除四棱平 尺、刀口直角尺工作棱边及纵向导轨直线度误差的影响。 5)读数时,在同侧的I、Ⅱ位置应采用相同的狭缝对线,以减小对线瞄准读数误

差的影响。 6)如果测量时坐标系方向与图示不同,应注意判断正负符号。

坐标系方向与图示不同,应注意判断正负

图9刀口直角尺工作角偏差测量示意图

选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面粗糙度 样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面 的深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量

6.3.2士字线与两顶尖孔中心连线的偏离

选择五倍物镜,在万能工具显微镜上测量。测量前应使万能工具显微镜的测角目镜 置于0位置。 将十字线芯轴装在两顶尖之间。调整显微镜焦距,使十字线芯轴的十字线影像清 晰。移动万能工具显微镜的纵横向滑板,使十字线中心与显微镜米字线分划板中心重 合。将万能工具显微镜立柱向左旋转12°(即α=12°),如图10所示位置I,测量出校 对杆的十字线中心影像在万能工具显微镜纵向上的偏移I,1一o.1;再将万能工具显微 镜立柱向右旋转12°(即α=12°),如图10所示位置Ⅱ,测量出校对杆的十字线中心影 像在万能工具显微镜纵向上的偏移Ⅱ.1一0.1。

(o)(o) (I,1,1) 2tanα 2tana

将十字线芯轴绕基准轴线旋转180°,应可以在视场中看到十字线清晰影像,如

.230.2) (I.2 ( II,2x I,2) h2= 2tana 2tana

按公式(6)计算h的测得值:

可按公式(7)简化计算:

按公式(8)计算偏移量:

至少测量3次,取3次测得值的平均值为十字线与两顶尖孔中心连线的偏离量

图10土字线芯轴测量位置

图11土字线芯轴测量位置2

应用上述方法测量时,应注意以下事项: 1)测量前应将十字线芯轴装在两顶尖之间,在正反两面观察,都应能看到清晰的 十字线。 2)显微镜立柱翻转的角度应与第一次一致,以消除立柱偏转误差的影响。 3)十字线芯轴翻面的位置应与第一次一致;读数时,在同侧的I、Ⅱ位置应采用 相同的虚线对线,以减小对线瞄准读数误差的影响

选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面粗糙度 样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面

为深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量,

6.4.3工作面圆跳动

锥体芯轴的圆柱工作面的径向圆跳动、圆锥工作面的斜向圆跳动和定位面的端面圆 跳动用跳动检查仪和测微计测量。 将锥体芯轴夹持在跳动检查仪两顶尖之间,使测微计与圆柱工作面垂直接触,将锥 本芯轴绕基准轴线回转一周,记录测微计最大示值与最小示值之差作为该位置的圆跳动 则得值。在基准轴线方向均匀分布的3个截面位置测量,取3个测得值中的最大值作为 圆柱工作面的径向圆跳动。 使测微计与圆锥工作面垂直接触,将锥体芯轴绕基准轴线回转一周,记录测微计最 大示值与最小示值之差作为该位置的圆跳动测得值。在基准轴线方向均匀分布的3个截 面位置测量,取3个测得值中的最大值作为圆锥工作面的斜向圆跳动。 使测微计在尽量靠近最大直径处与定位面垂直接触,将锥体芯轴绕基准轴线回转 周,记录测微计最大示值与最小示值之差作为定位面的端面圆跳动

将锥体芯轴夹持在万能工具显微镜两顶尖之间,用狭缝对线法测量,测量示意图如 图12所示。 移动纵横向滑板到位置I处(尽量靠近大端直径位置)。转动测角目镜使米字线分 划板虚线与圆锥母线平行,瞄准读数,记录坐标值(1,y1)。移动纵横向滑板到位置 ⅡI处(尽量靠近小端直径位置)。测角目镜不动,瞄准读数,记录坐标值(2,V2)。 多动横向滑板(纵向滑板不动)到位置血处,转动测角目镜使来字线分划板虚线与圆锥 母线平行,瞄准读数,记录坐标值(2,y2)。移动纵向滑板,使纵向坐标为与位置1 完全相同,再移动横向滑板到位置IV处。测角目镜不动,瞄准读数,记录坐标值(1 。 按公式(9)进行计算α

Y1 y2 (arctan arctan : T 1

测量3次DBJ50T 158-2013 复合硬泡聚氨酯板建筑外保温系统应用技术规程,取3次测得值的平均值的作为该截面上的圆锥半角。 将锥体芯轴绕基准轴线回转90°,按上文方法测得垂直截面上圆锥半角。 取两个截面上圆锥半角的平均值作为锥体芯轴的圆锥半角

图12锥体芯轴圆锥半角测量示意图

选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面粗糙度比 样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面痕 迹的深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量

在研磨面平尺上用光隙法进行测量。

标准芯轴的径向圆跳动用跳动检查仪和测微计测量。 将标准芯轴夹持在跳动检查仪两顶尖之间,使测微计与圆柱工作面垂直接触,将标 准芯轴绕基准轴线回转一周,记录测微计最大示值与最小示值之差作为该位置的圆跳动 则得值。在基准轴线方向均匀分布的5个截面位置测量,取5个测得值中的最大值作为 圆柱工作面的径向圆跳动

标准芯轴的直径变动量用测长仪进行测量。 用测长仪在标准芯轴中间截面和靠近两端截面,共3个截面进行测量。每个截面测 量2个方向,共测量6个位置的直径。取6个位置直径测得值的最大值与最小值之差作 为标准芯轴的直径变动量。

JB/T 12019-2014 多参数食品现场快速检测仪通用技术条件选用与被测测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽尽可能一致的表面租糙度比 较样块比较测量。目力观测被测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面痕 迹的深度。也可以用表面粗糙度测量仪测量

工作面的平面度用平面平晶以技术光波法进行测量。平面度F按公式(10)计算

工作面的平面度用平面平晶以技术光波法进行测量。平面度F按公式(10)计算:

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