标准规范下载简介：
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JJF 1850-2020 锗γ射线谱仪校准规范将实施.pdf6.1.1温度：15℃~35℃，测量时室温变化不超过土2℃ 6.1.2 相对湿度：小于75%RH。 6.1.3仪器使用时不应受到影响使用的震动和电磁场干扰。 6.1.4测试环境中不得存在明显干扰测量的环境本底
6.2. 1储射线谱仪
全能峰相对探测效率应大于20%DZ/T 0064.44-2021 地下水质分析方法 第44部分：硼量的测定H酸-甲亚胺分光光度法，对6Co1332.49keV射线的能量分辨力应优 于2.5keV。
活度范围：（103~105）Bq； 相对扩展不确定度：Urel≤4.0%（k=2）； 其他校准源见附录C。
核素：241Am、152Eu; 活度范围：（103～105）Bq，其中241Am活度不超过104Bq； 相对扩展不确定度：Urel≤4.0%（k=2）； 其他校准源见附录D。
6.2.4全能峰效率校准源
刻度源应具有可溯源性； 核素：232Th、226Ra、40K； 活度范围：（200～1000）Bq； 不确定度范围：Urel≤6.0%（k=2）； 几何规格Φ75mm×70mm； 介质：土壤； 其他核素、几何规格、基质效率校准源见附录E
校准项目包括能量分辨力、能量和全能峰效率。 7. 2校准方法
将能量校准源置于探测器合适位置，记录源的特征射线能量和相应全能峰峰位道 址。能量校准的函数关系可近似由二次多项式表示，由式（1）给出，能量校准非线性 用二次项拟合常数6，表示：
EEE.+bH+b,H
E 一射线能量，keV； H一全能峰峰位道址； E。道址H为零道时相应的能量，keV； b1——拟合常数，表示拟合直线的增益； b2 拟合常数，表示系统的非线性
7.2.3全能峰效率术
将效率校准源置于探测器端帽上，与探测器中心轴线对齐，获取谱数据，使被
丫射线的全能峰净峰面积计数不小于40000，计算能量为E的射线全能峰净计数率 n（E）。在相同测量条件下，获取本底样品谱数据，计算能量为E的峰位处本底净计数 率n（E）。全能峰探测效率按（2）式计算
按本规范进行校准，出具校准证书，校准证书内页内容见附录B；校准结果应给 测效率结果的不确定度（评定示例见附录F）
时间间隔由用户仪器的使用情况自行确定
B.1校准证书内页内容
至少应包括下列信息： a）被校对象的名称、型号、编号； b）本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明； c）本次校准时的环境条件； d）校准结果及其测量不确定度的说明
1）能量分辨力； 2）能量校准的函数关系； 3）全能峰效率。
1）能量分辨力； 2）能量校准的函数关系； 3）全能峰效率。
不同能区能量分辨力校准源
效率校准源应具有可溯源性。按几何形状划分，可分为点或体「圆柱形或凹 Iarinellibeaker）」标准源。按基质划分，可分为水、土壤、生物样品、空气过滤 等基质标准源。典型效率刻度源一览表见表E.1。
表E.1典型效率刻度源一览表
标准点源为点状薄膜源，源斑位于源托中心，直径不大于$3.0mm，偏离中心小 于1.5mm。可用于探测器分辨力测试、能量刻度和效率刻度。 推荐核素：241Am、57Co、133Ba、137Cs、60Co、152Eu；活度范围：（103～105）Bq，其中 41Am、137Cs活度不超过10*Bg：不确定度范围：Ul≤2.5%（k=2）
样品容器使用规格化的，有固定容量和形状的圆柱形或凹形杯。样品容器材料可选 用聚乙烯，ABS树脂或聚丁酸酯
模拟土壤密度介于0.8g/cm*～1.6g/cm"之间，以一定比例的氧化铝和二氧化 为基质材料。
E.3.2.2模拟水基质
以二次蒸馏水作为水样品模拟基质，并采取适当措施以减少壁吸附，配置好的体刻 度源的不均匀性小于2%。
E.3.2.3生物样品基质
生物样品包含陆生动植物、水生生物等。一般需将样品干燥，并进一步灰化浓缩， 制备生物样品基质
E.3.2.4空气过滤介质
空气中放射性核素的测量，一般需要选用过滤介质对空气取样。常用过滤介质包 细玻璃纤维滤纸、活性炭滤纸和活性炭滤筒等
E.3.3.1天然放射性核素
推荐核素：22Ra、232Th、4°K；活度范围：（200～1000）Bq，不确定度范围：Urel 0%（k=2)。 3.3.2人工放射性核素 推荐核素：241Am、133Ba、109Cd、57Co、139Ce、51Cr、137Cs、134Cs、54Mn、88Y、65Zn、60C I；活度范围：（102~105）Bq，其中241Am、137Cs、134Cs活度不超过104Bq；不确定 围 : U . ≤4. 5% (k = 2)
推荐核素：226Ra、232Th、°K；活度范围：（200～1000）Bq，不确定度范围：Urel≤ 5.0%（k=2)。 E.3.3.2人工放射性核素 推荐核素：241Am、133Ba、109Cd、57Co、139Ce、51Cr、137Cs、134Cs、54Mn、88Y、65Zn、60Co 31I；活度范围：（102～105）Bq，其中241Am、137Cs、134Cs活度不超过104Bq；不确定度 范围: U .≤4. 5% (k = 2)
E. 3. 3. 2人工放射性核素
全能峰效率可用下式计算：
E.2不确定度来源分析
全能峰效率的不确定度评定方法
全能峰效率的不确定度主要来源于：峰面积（计数统计涨落）、本底、校准源活度、 丫射线发射几率，全能峰效率等
F.3各输入量的标准不确定度评定
样品计数率的不确定度由计数的统计涨落引起，在低计数率或中等计数率下，计数 率服从泊松分布，可按B类方法评定。在高计数率下，由于脉冲堆积和死时间引起的 计数损失将改变计数的时间间隔密度分布，导致偏离泊松分布，在此不做进一步讨论 本节仅考虑低计数率或中等计数率下，样品计数率的标准不确定度评定。 设在时间t内记录到的样品计数为N，则计数率n为：
根据不确定传播率，可以得到计数率n的标准不确定度为：
其中u（N），u（t）分别为N和t的标准不确定度。 样品计数服从泊松分布，样品计数N的标准不确定度u（N）
F.3.2本底计数率的标准不确定度
t(n)= : u²(N)+ .u²(t)
本底计数同样服从泊松分布，本底计数率的不确定度可按B类方法评定。 设在时间t内记录到的本底计数为N，则本底计数率nb为：
角定传播率，可以得到计数率nh的标准不
F 18502020
其中u（N，），u（t）分别为N，和t的标准不确定度 本底计数服从泊松分布，本底计数N，的标准不确定度u（N,）为：
F.3.3射线发射几率的标准不确定度
度可以忽略，即u（t）=O，则u（nn）可
射线发射几率的标准不确定度可查同位素手册得到。采用B类方法评定，则 发射几率的标准不确定度为：
式中：u（1）为Y射线发射儿率的标准不确定度；1+为发射儿率最天可能值， 内发射几率最小可能值；k为包含因子，假设I在取值区间内为均匀分布，则k取值 为
F.3.4刻度源活度的标准不确定度
刻度源活度A的标准不确定度可根据溯源证书给出的不确定度值评定，采用B 法评定，则刻度源活度的标准不确定度为：
式中：u（A）为刻度源活度的标准不确定度；U（A）为刻度源活度的扩展不确 ；k为包含因子，通常取值为2。
F.4合成标准不确定度
根据不确定度传播律，各输入量按不相关处理（相关性可忽略），则全能峰绝对 效率ε（E）的合成标准不确定度可以表示为：
u(e)= .u(n)+ · u²(nb) + : u²(I) + aA u²(A)
OE E 分别为分量n，nb，I，A的灵敏系数
F. 4. 2灵敏系数
样品计数率的灵敏系数：c1= an I.A
样品计数率的灵敏系数：c1= I.A
样品计数率的灵敏系数：c1= anI.A
包含因子k三2，得到扩展不确定度：
在谱分析中，被测样品种类繁多，当样品的测量条件（尺寸、形状、密度、化学 成分等）与刻度条件不同时，样品自吸收也会不同，这时需要对测量样品进行自吸收修 正。自吸收不仅与样品本身的特性相关，还与样品与探测器的相对位置以及探测器的尺 寸、形状等参数相关，
G.2自吸收修正的计算方法
自吸收的程度，可以通过有自吸收时的射线强度（吸收系数以≠0）与在同样条 件下无自吸收时的射线强度（假想情况，吸收系数二0）的比来表示，用数学公式表 示为：
I（有吸收衰减≠0） Cselr(E) I。（无吸收衰减μ=0）
从而得到自吸收修正因子Ceelr（E）为：
图G.1半经验方法示意图
G. 2. 2解析方法
图G.2解析计算示意图
根据样品与探测器的几何关系，将体积为V（见图G.2）的样品分为无限个小的矩 阵元，按每一个小的矩阵元对探测器张的立体角2进行积分，得到自吸收修正公式 如下：
其中（E）为样品介质对于能量为E的射线的衰减系数；e（r，t）为射线在样品 中的路径。 若考虑射线进人探测器晶体前的吸收（样品容器、探测器窗等），上式可以表示为 如下形式：
G.3质量衰减系数的确定
样品成分已知时，可以通过光子吸收截面数据库（XCOM）计算样品的质量衰 数。以水介质为例，计算不同能量点（能量范围从1keV到10MeV）的射线在 的质量衰减系数，见图 G.3。
G.3.2样品成分未知
图G.3水介质质量衰减系数
测3. 2. 1. 1原理
G. 3. 2. 1. 2 实验步骤
实验设计如图G.4所示，为使得射线满足窄平行光束条件，在样品盒的上下 加一个铅准直器。
GB/T 37319-2019 电梯节能逆变电源装置图G.4射线衰减系数实验测量示意图
实验步骤：1）将空样品盒放置在上下铅准直器之间的样品测量位置，利用锗射 线探测器获取点源的能谱，计算对应峰位的计数率N，（E）；2）将空样品盒换成待测 详品，利用锗射线探测器获取点源的能谱，计算对应峰位的计数率N2（E）。质量 衰减系数计算公式如下：
um（E）——介质对能量为E的射线的质量衰减系数； 样品厚度。
N,(E) um（E)= .ln (N,(E)
QKJY 0001S-2013 昆明经开区壹粒香调味食品厂 复合调味料H.1测量条件与校准条件相同
在能谱分析中，当样品测量条件与校准条件相同（包括样品几何规格、基质 基质密度、核素等）时，效率刻度结果可直接使用，利用相对比较法进行放射性 活度分析。样品中待分析核素活度按下式计算：