SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范.pdf

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SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范.pdf

5.4.5发光强度或光通量或光功率

5.4.6电光转换效率

5.4.7发光强度或光通量或光功率保持率

WH/T 70.3-2020 公共图书馆评估指标 第3部分:省、市、县级少年儿童图书馆按照SJ/T113992009中8.3的规定测试

5.4.9峰值发射波长

5.4.10光谱辐射带宽

SJ/T114862015

5.4.12光谱功率分布

5.4.13发光强度角分布

将芯片粘结在合格的封装管壳底座上,键合引线,便裸露(未灌胶)的芯片形成导电通路 斤11399一2009中6.1的规定测试

5.4.14峰值发射波长与电流的关系

5.4.15电压与电流的关

.16发光强度(或光通量或光功率)与电流的

按照SJ/T11399一2009中6.4的规定,改变正向通电电流,分别测试对应的发光强度(或光通量 率。

5.5.2芯片剪切强度

按照详细规范规定的键合温度、键合时间、键合压力进行键合,并按照GB/T4937一1995中I.7规 定的方法进行剪切强度试验。

SJ/T 114862015

在下列情况之一时应进行鉴定检验: a) 新产品定型鉴定时: b) 正常生产时,每年需进行一次; C) 原材料、工艺等发生较大变化,可能影响产品质量时: d) 产品停产6个月以上恢复生产时; e 国家质量监督检验机构提出鉴定检验要求时

6.5.2样品数量与检验方法

提交鉴定检验的样品数量与检验方法应按表5 表7的规定进行

受检验样品其性能应符合本规范和制造厂确定的产品详细规范所规定的所有要求,方为合格。 当提交鉴定检验的任一检验批不符合表5、表6、表7中的要求,且不再提交或者不能再次提交 者再次提交(见6.3)仍不合格时,则判该批产品不合格。

质量一致性检验包括A组、B组和C组, A组和B组为逐批检验GB/T 40271-2021 纺织纤维鉴别试验方法 差示扫描量热法(DSC),C组为周期检验。在C组检验合格白 周期内,A组和B组检验合格的批可以交付,当C组检验不合格时,应停止A组B组检验,采取整改措施, 并对整改后的产品重新提交,同时恢复A组和B组检验,待到C组检验合格后方可交货。

6. 6. 2 A组检验

从筛选合格的检验批中随机抽取芯片,按表5的规定进行A组检验。各分组的测试可按任意顺

SJ/T114862015

被试键合引线数,至少应从3个样品中抽取。当有一根键合引线拉力不合格时,可增加抽样,抽样方案为20

验样品其性能应符合本规范和制造厂确定的产品详细规范所规定的所有要求,方为合格。 交质量一致性检验的任一检验批不符合表5、表6、表7中的要求,且不再提交或者不能再次提 者再次提交(见6.3)仍不合格时,则判该批产品不合格。

GB/T 33863.1-2017 OPC统一架构 第1部分:概述和概念SJ/T114862015

本规范由半导体照明技术标准工作组组织完成。 后): 山东华光光电子有限公司: 深圳雷曼光电科技股份有限公司: 厦门三安电子有限公司: 中国光学光电子行业协会光电器件分会: 上海大晨光电科技有限公司: 厦门华联电子有限公司; 杭州中为光电技术有限公司: 深圳市淼浩高新科技开发有限公司: 华南师范大学光电子材料与技术研究所: 晶能光电(江西)有限公司

本规范由半导体照明技术 山东华光光电子有限公司: 深圳雷曼光电科技股份有限公司: 厦门三安电子有限公司: 中国光学光电子行业协会光电器件分会: 上海大晨光电科技有限公司: 厦门华联电子有限公司; 杭州中为光电技术有限公司: 深圳市淼浩高新科技开发有限公司: 华南师范大学光电子材料与技术研究所: 晶能光电(江西)有限公司。

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