GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法 更新时间:2009年03月12日 资源 GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 19248-2003 文件类型:.rar 资源大小:45.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:12290 VIP资源 GB/T 19248-2003标准规范下载简介: GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法 本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装(PGA)引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体(LCC)、四边引线扁平封装(QEP)和陶瓷双列封装(CDIP)等引线电阻的测试。 核工业标准 体育标准 商检标准 电子标准 石油化工标准 地方标准 有色冶金标准 稀土标准 民用航空标准 水利标准 煤炭标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 18917-2002 彩色投影显象管空白详细规范 下一篇 GB/T 19287-2003 电信设备的抗扰度通用要求 相关文章