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GB∕T 3323-2005 金属熔化焊焊接接头射线照相.pdfGB/T3323—2005表2(续)穿透厚度w/胶片系统类别金属增感屏类型和厚度/mm射线种类mmA级B级A级B级w≤50C4铅屏(前后)0.02~0.2X射线>250kV~500kVC5w>50C5前铅屏0.1~0.2;后铅屏0.02~0.2Se 75C5C4铅屏(前后)0.1~0.2前铅屏0.02~0.2前铅屏0.1~0.2hIr 192C5C4后铅屏0.02~0.2≤100C4Co60C5钢或铜屏(前后)0.25~0.7w>100C5w≤100C3X射线1MeV~4MeVC5钢或铜屏(前后)0.25~0.7°w>100C5w≤100C4C4铜、钢或钮前屏≤1X射线>4MeV~12MeV100
6.5.2.2当采用新的透照布置时,应在每个暗袋后背贴上高密度材料标记“B"(高度大于等于10mm, 厚度大于等于1.5mm),以此验证背散射的存在与否。若底片上出现该标记的较亮影像,此底片应作 废;若此标记影像较暗或不可见,表明散射线屏蔽良好,则此底片合格
射线源一工件最小距离f与射线源的尺寸d和工件一胶片距离6有关。 射线源一工件距离f的选择,应使f/d符合下列要求:
f/d≥7.5。(b)2/3 f/d≥15·(b)2/3
f/d≥7.5·(b)²/ f/d≥15·(b)²/3
一单位为毫米(mm)。 当6<1.2t时,(1)和(2)式及图21中的6可用公称厚度t取代。 射线源一工件最小距离f可按图21的诺模图确定。 图21是根据(1)和(2)式作出的。若须在A级时检出平面型缺陷,则射线源一工件最小距离fm的 选择应与B级相同。 对裂纹敏感性大的材料有更为严格的技术要求时,应选用灵敏度比B级更优的技术进行透照。 采用双壁双影椭圆透照技术(6.1.6)或垂直透照技术(6.1.7)时,(1)和(2)式及图21中6值取管子 外径D。。 采用双壁单影法透照(6.1.8),在确定射线源一被检工件距离时,6值取一个公称壁厚t。 射线源置于被检工件内部透照(6.1.4和6.1.5),射线源一工件的最小距离f允许减小,但减小 值不应超过20%。 射线源置于被检工件内部中心透照(6.1.4)时,在满足像质计要求的前提下,射线源一工件的最小 距离f允许减小,但减小值不应超过50%。
平板纵缝透照(图1和图15)和射线源位于偏心位置透照曲面焊缝(图2~图4,图8~图16)时,为 保证100%透照,其曝光次数应按技术要求来确定。 射线经过均匀厚度被检区外端的斜向穿透厚度与中心束的穿透厚度之比,A级不大于1.2,B级不 大于1.1。 只要观片时有适当的遮光设施,底片上由于射线穿透厚度变化所引起的黑度值变化的范围,其下限 不应低于6.8规定的数值,上限不得高于观片灯可以观察的最高值。 工件被检区域应包括焊缝和热影响区,通常焊缝两侧应评定至少约10mm的母材区域。 对接环焊缝100%透照时,其曝光次数的最小值应满足附录A。
选择的曝光条件应使底片的黑度满足表4中的规定。 表4底片黑度
确定射线源一工件最小距离f的诺模
当观片灯亮度按6.10中所规定的足够大时,可采用较高的黑度。 为避免胶片老化、显影或温度等因素所引起的灰雾度过大,应从所使用的未曝光胶片中取样验证灰 雾度,用与实际透照相同的暗室条件进行处理,所得灰雾度值不允许大于0.3。这里的灰雾度是指未经 曝光即进行暗室处理的胶片的总黑度(片基十乳剂)。 采用多胶片透照,而用单张底片观察评定时,每张底片的黑度应满足表4规定。 采用多胶片透照,目用两张底片重选观察评定时,单张底片的黑度应不小于1.3。
当观片灯亮度按6.10中所规定的足够大时,可采用较高的黑度。 为避免胶片老化、显影或温度等因素所引起的灰雾度过大,应从所使用的未曝光胶片中取样验证灰 雾度,用与实际透照相同的暗室条件进行处理,所得灰雾度值不允许大于0.3。这里的灰雾度是指未经 曝光即进行暗室处理的胶片的总黑度(片基十乳剂)。 采用多胶片透照,而用单张底片观察评定时,每张底片的黑度应满足表4规定。 采用多胶片透照,且用两张底片重选观察评定时,单张底片的黑度应不小于1.3。
底片的评定应在光线暗淡的室内进行,观片灯的亮度应可调,灯屏应有遮光板遮挡非评定区。观片 灯应满足JB/T7903的规定。观片灯的亮度应能保证底片透过光的亮度不低于30cd/m²,尽量达到 100cd/m²
附录A (规范性附录) 对接环焊缝100%射线照相的最少曝光次数 外径大于100mm的对接环焊缝100%透照的最少曝光次数可参阅图A.1~图A.4。 当壁厚增加量与公称厚度之比△t/t小于等于20%(等级A)时,最少曝光次数可参阅图A.3和图 A.4。只有当焊缝中出现横向裂纹的可能性很小或此类缺陷还采用其他无损检测方法来检测时,才使 用此种技术。 当壁厚增加量与公称厚度之比△t/t小于等于10%(B级)时,最少曝光次数可参阅图A.1和 图A.2。此种技术有利于发现横向裂纹。 但要检出工件中个别横向裂纹DB/T 29-72-2018标准下载,还应在图A.1~图A.4查出值的基础上扩大曝光次数。
当At/t=10%(B级)时,单壁外透法透照环缝的 最少曝光次数N与t/D。和D/f的关系