GB/T 10066.12-2020 电热装置的试验方法第12部分:红外电热装置

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标准编号:GB/T 10066.12-2020
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GB/T 10066.12-2020 电热装置的试验方法第12部分:红外电热装置

的准备过程中所使用的能量应计人,但在使用和损失的能量计算中分别描述。如果该热能的 部分又回收到装置或处理过程中,那么这种热能的回收利用应单独记录,以便与同类但不具 有这种特性的其他装置进行比较,在该过程以外使用的热能不应包含在报告中。

间款式装置的特性是不连续作业。如果有进人通道,将它们打开并将炉科放人装置的炉室内,之后 常规操作。随后,进人通道再次打开,将炉料从炉室中取出。同时进入通道关闭,装暨要公进人热 ,要么放人另一批炉料操作重新开始。 正常运行通常含有加热:同时也可包括下述子过程中的二项或多项: 进人通道的关闭和打开; 炉室加压: 炉料的输送,例如,包括操作中的摆动 在规定的时间内将工件保持在规定的温度: 向炉室内充人反应性或保护性气体,包括沉积处理 炉料自由或强制冷却,例如,为避免热负载暴露在外部环境中引起损伤所需的冷却。 完成这些子程序所用的能量应计人。考虑了作业情况的装置的空间界限由如下各项界定: 炉料在正常操作之前放置的入口位置,或将炉料送人炉室的设备:这“设备以及它所使用的能 量是装置的一部分。 炉料在正常操作取出之后放置的出口位置,或将炉料从炉室中取出的设备;这一设备以及它所 使用的能量是装置的一部分。 包括所有开关、泵,以及设备运行所需的冷却等中间的设备 注:在真空设备中,红外装置和其他装置之间的界限通常是阀门。 与测量相关的间歇式操作的周期应在热稳态操作之后开始

连续式装置的特性是连续或半连续式作业:在正常作业中,炉料经传输通过装置的炉室。当工件 经传输从装置中通过时,在其中进行连续处理一 一例如,卷对卷操作或板料送入装置中。这种类型的装 置通常在没有工件传输时进入热稳态操作。 正常操作通常包含加热,同时也可包括下述子程序中的二项或多项,它们可在装置内分离的空间位 置进行: 将工件保持在规定的温度; 充人反应性或保护性气体,包括流积处理; 工件自由或强制冷却ZJM 013-4391-2018 新风净化机,例如为避免热工件暴露在外部环境中引起的损伤所需的冷却。 完成这些程序所用的能量应计入。装置的界限由如下各项界定 人口和出口; 包括所有开关设备、泵,以及设备运行所需的冷却装置间的设备。 输送或独立装置中的辑处理的能量清耗应计人使用的能量中。应在计算中单独说明

5试验类型和通用试验条件

本部分不规定装置在冷态下的试验。所有的这类试验都是与安全有关的,不在本部分的范围之 安全有关的试验在GB/T5959.1和GB/T5959.12中规定

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应在装置试运行或者准备正常工作时,以及以制造商规定的固定周期,或在维修和改型之后,对共 态下的装置进行下述试验: 供电电压对性能的影响,见7.1: b 冷态启动操作中的能量消耗和所需的时间,见7.2; 稳态操作中的功率消耗,见7.3; 保温操作中的功率消耗,见7.4; 关闭操作中的能量消耗和所需的时间,见7.5: f 定期维护操作中的能量消耗,见7.6; g 正常操作中的能量消耗,见7.7; h) 三个完整工作周期的能量消耗以及峰值功耗,见7.8; i 生产能力,见7.9; 转移到工件的能效,见附录A; k 完成预期操作的装置的处理范围,见7.11: 1 工件处理的均勾性,见附录B; 装置内的红外辐射分布,参见附录C 其他附加试验可在制造商发布的试运行和操作手册中规定,或由制造商和用户商定

5.3.1试验中的运行条件

试验中的运行条件应在正常运行条件的范围之内:从而反映出制造商对装置的预期用途,避免极端 使用方式故意误用,或者未经授权而对装置或其运行参数进行修改

5.3.2试验中的环境条

所有试验均应在如下条件下进行: 在符合标准的环境条件下,环境温度在5℃40℃的范围内,空气相对湿度低于95%; 在装置使用点可利用且规定的环境条件下。 环境条件不应超出这些为了装置的使用而给出的规定。在试验中,应监测影响测量结果的所有环 竞条件并将它们作为测试报告的一部分。这些环境条件包括: 装置附近的空气温度和湿度, 吸人装置的冷却空气的温度和湿度; 废气温度; 工件进人装置时的温度; 工件进入装置时的含水量:如果活用

供电电压不应超出预期应用中规定的限值、 注:线压的变化限值在1EC6003871中规定 试验中应监测装置的供电电压。 在功耗或电流之类的特定电气值的测量中应包括供电电压数据

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在使用红外模拟负载(IDW)时应考虑下列因素: 板状负载的IDW应为板状; 如果IDW的影响盖了待试验装置的全部可用尺寸,那么间歌式作业中的IDW应有与预期 工件相同的尺寸,连续作业中的IDW应有与预期工件相同的宽度; 如果计划处理形状复杂的工件,IDW.的形状应包括正常工件的所有相关几何特性; 对温度均勾性的测量,IDW应具有可比的热吸收能力,例如,体积系数、密度系数和热性能, 对蒸发均勾性的测量,IDW应由与工件相同的材料制成,同时应具有可比较的蒸发量; 对交联均匀性的测量,IDW.

对本部分中规定的试验推荐采用不止一种测量。对时间分辨的测量,应使用数据记录器或多通 据采集系统:它能自动测量并将所需数据以计算机可读形式存储

测量设备所需的时 速度取决于装置以及要进行的特定试验。覆 都能记录下来

6.3.1所有的电压测量设备应为2.0级或优于2.0级。交流电流测量设备应能显示出独立于波形的真 实有效值 6.3.2所有的电流测量设备应为2.0级或优于2.0级。交流电流的电流测量设备应能显示出独立于波 形的真实有效值 6.3.3所有的能耗测量设备应为2.0级或优于2.0级,测量设备应能测量独立于波形的有功和无功 能量。 6.3.4所有的功耗测量设备应为2.0级或优于,2.0级。测量设备应能测量独立于波形的有功和无功 功率。 6.3.5所有电参数的测量是装置使用的能量或功率测试的二部分,应在装置的电源进线处测量 6.3.6所有电参数的测量是装置红外发射器使用的能量或功率测试的一部分,应在连接至发射器的开 关设备的电源输出口测量。驱动发射器所需的变压器、电容电路或类似装置是开关设备的一部分。 6.3.7所有电参数的测量是辅助设备使用的能量或功率测试的一部分,应在其分别连接至设备的开关 装置电源输出口测量: 6.3.8可在装置的制造过程中设置特定的进人点。测量设备可能是开关设备的一部分,它所使用的能 量视为开关设备用能的一部分

测量温度所用的设备类型取决于任务,温度范围、待测表面的可用信息以及可接近性等 接触热电偶简单易用比较可靠。如果热电偶能与具有高质量和良好热传导性能的物体表面紧密 且不可拆卸式地接触,那么它就能提供可靠且精确的结果。 在充分了解表面发射率且表面可被视为朗博体时,例如,遵循角发射率余弦定理,由高温计和红外

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成像仪组成的热像法可用于所有的高温表面。使用到的发射率的值、测量波长和发射率的假定误差应 包括在所有的测量报告中 本部分中所有温度测量的相对测量误差不应超过以℃度量的温度测量值的5%。测量精度应包括 在测量报告中。 注:德国VID1/VDE35系列标准121提供了工业温度测量的最佳实例

71取决于供电电压的装置性能

如果红外发射器直接或通过固定变压器供电,那公实际供电电压或其波动都会影响红外电热装置 生能。如果实际供电电压或宜称供电电压与额定电压不同,那么这种影响可能会更大。 单个红外发射器功耗的变化及对其施加的工作电压取决于发射器的类型。这二数据可由发射器的 商提供,同时功耗的变化及其实际工作电压: 或应使用这一数据计算; 或者可通过在装置的其他恒定设置下,长时间监测装置的供电电压以及装置或发射器的功料 来测量。 注:以后的红外发射器试验方法标准将考虑取决于电压的功耗变化的测量。 功率和实际工作电压的变化同样影响着装置的其他参数:例如:炉培温度、工艺时间升温时间 实际工作电压同样也会影响所有的试验结果:它应是试验报告的一部分

7.2冷态启动操作的能耗和时间

下列各项适用于装置的冷态启动时间和能耗测量,这是为了某一目的,需要在正常工作之前进 的: 装置应从5.3.2所述的环境条件开始加热; 如有可能,装置应在无负载时工作: 如有可能,应对炉室或区域预热,以达到尽量接近热稳态操作的状态; 测量冷态启动总电耗和时间 冷态启动能耗的测量可用于: 整个红外装置; 仅红外发射器: 仅辅助设备。 如果装置仅随炉料被安全地加热,

73热稳态工作时的功翔

下列各项适用于热稳态时的功耗测量: 如有可能,装置在无负载时工作; 保持热稳态工作条件: 测量热稳态期间的总能耗和持续时间 热稳态功率的测量可用于: 一整个红外装置; 仅红外发射器; 仅辅助设备

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为了在特有的工艺之后达到负载温度平衡,通常需要装置的保温特性,它在一些类型的装置中并不 存在 注:热稳态与保温之间的主要差别在于,在后一种情形中是有工件存在的且它可以发出插射,或者向其周围环境发 出对流和传导能量。这通常由不同的外部能量进行补偿:以维持工件温度。 下列各项适用于有负载的保温操作中的功耗测量: a)如果保温是正常操作的一部分,则试验适用: b)装置在有被加热工件的情况下工作; C 工件温度保持恒定,可使用特殊控制设置实现这目标: 测量保温期间的总能耗和保温时间。 保温功率的测量可用于: 整个红外装置: 仅红外发射器, 仅辅助设备

7.5关闭操作的能耗和

如果适用,下列各项适用于关闭操作中的能耗测量: )按制造商的规定关闭装置: 6)测量关闭期间的总能耗和关闭时间, 关闭操作中的功耗测量可用于: 整个红外装置: 仅红外发射器: 仅辅助设备。

7.6常规维护操作中的能耗

如果适用,下列各项适用于维护能耗和时间的测量 按制造商的规定进行装置的维护; b)测量维护操作期间的总能耗和时间。 维护功耗的测量可用于: 整个红外装置; 仅红外发射器: 仅辅助设备; 仅特定的维护设备

7Z7融正常工作中的能用

所有电耗的测量应能反映出装置的给定 果适用 列各项应写人报告之中: a)间歇式装置在一个周期内的能耗;这可通过对一定数量的周期进行测量并求平均来计算。周 期的数量和能耗的变化应计人测量报告: b)连续式装置在处理一定数量的工件期间的能量。 )装置在一个完整的生产周期内的能耗,例如,在一个工作日、一周或一整年。 正常工作能耗的测量可用于:

7.8累积能耗和峰值功耗

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装置时间分辨功耗的测量使其在二个完整工作周期的累积能耗的计算和峰值功耗的测量得以实 见。该试验应通过对整个装置的时间分辨功耗进行监控来实现: a)如果装置在多个周期之间有冷却,则是二个周期: b)如果装置在某几个小时工作,但在工作日结束时冷却,则是一个轮班; e)如果装置连续工作:则超过整个加热周期和二个小时的运行时间。 内部电能转化和装置开关设备的设计应能承受规定的峰值电耗。它限定了装置供电电源的设计和 尺寸标注中使用的额定功率。实际的峰值功耗应在从加热到冷却的一个典型的完整工艺周期内测量。 装置的峰值功耗可在下述某个阶段达到: 连续作业装置的预热阶段; 间式装置的加热阶段; 或者在其他工作模式期间 注:二个工艺阶段功耗的分辨绘图是装置智能控制或能效控制的基础,它允许降低蜂值或者将高能耗工艺周期移 至工广的低能耗阶段或者低电能或能源成本阶段

净生产能力是在考到预期的工件质量后, 期理 后;具有预期工件质量的那一部分进行评估。 工件的数量应被计人或测量: )在被放人装置中,质量合格且在这一阶段未被拒绝时,仅需在工艺开始之前检查其质量: b):在离开装置,达到预期工件质量,仅需在工艺结束后检查质量。 工件的数量应: 在可数时计数: 在不可数时,表示为单位质量/时间; 在工件为片状时,记为单位面积/时间。 仅考虑达到预定质量的被处理工件的净生产率应表示为单批或给定时间段内的。它定义为达到子 期质量的工件的量除以所有被处理工件的量。 废品率定义为未达到预期质量的工件的量除以所有待处理工件的量

Z.10转移到炉料的能交

转移到炉料的能效的估算通常是一项复杂的工作。关于从装置向工件转移能效的试验方法在附录 A中规定

完成特定工艺的装置的工作范围定义为设定参数的上限和下限之间的范围,被处理炉料在这其间 能够达到预定的质量。装置内的工艺条件会相差很大,因而工件表面情况也会相差很大 可使用下述方法测量工作范围 a)装置带负载工作且功率逐渐增加,直至所有工件都被很好地处理,例如:工件获得红外辐射量 最少的那一部分在工艺中进行了必要的处理,这就是下限

b)装置带负载工作且功率进一步增加,直至工件出现第一次过热迹象,例如,工件获得红外辐射 量最高的那部分出现了破坏性处理的迹象。这就是上限

7.12被处理工件的均

对工件表面处理的均匀性试验通常比较复杂。 试验方法随工艺中的关键自标的特定数量或质量而 变化相关规范在附录B中给出

工作中的装置内部的红外辐射分布试验对红外电转化效率(8.2)的估算或追踪工件处理不均匀性 的来源非常必要,关于装置内部红外辐射分布的试验方法在附录C中给出

由第7章试验得出的结果允许对装置的相关效率值进行计算 进行预期处理的工件的每一片、单位质量或单位面积所需的最小的理论能量通过式(1)计算: E=mc,T).AT+E+R *(1 式中: m 工件的质量; (T) 工件的比热; 4T 从环境温度到最高工艺温度的温度变化: E 在工艺中,对质量为m的工件,溶剂的蒸发所需的能量; R 质量为的工件发生预期的化学反应所需的能量。 可能还需考忠额外的工艺。式(1)是用来计算完成预期工艺所需的最小能量的,前提条件是装置中 有能量损失且能量未被回收利用

红外电转化效率是装置内电能转化为红外辐射的效率。它是工业红外电热装置的一个重要特性: 因为它是能量转化的主要方式。红外转化效率通过式(2)计算:

ons 电能到红外的转化效率; E 发射到工件上的辐射能; E 一装置的能耗, 该能效可表示为整个装置或者仅红外发射器的能耗 第一步是定义并计算电能到红外辐射的转化能力,按式(3)计算

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装置电能向红外插射转化的能力: 第个发射器电能向红外转化的效率; E 试验条件下第个发射器的能耗。 注:测量单只发射器转化效率的试验方法在IEC62798中给出。 这二数值并不能描述转化效率,但假设所有的红外发射器都在单只发射器试验条件下工作,则设备 内由红外发射器所产生的红外辐射的量会因装置内的工作条件的不同相差很大。设备的电转化效率不 于电转化能力:这是由于以下重要影响因素造成的: 在测量单只发射器电转化效率的试验条件下,单只发射器的工作条件不同:同时装置中的实际 测试条件也不同; 发射器间的辐射再吸收; 设备内气体或烟气对辐射的吸收: 设备内的辐射吸收; 经设备开口的辐射损失; 工件对辐射的反射, 设备内其他表面发射的辐射 因此,转化效率可能比转化能力天或者小,但更倾尚于比它小

如果不仅测量了辐射的变化,还追踪 引起的其他作用包括在测量中,那么 红外转化效率便可通过由附录C所述的测量得来的数据进行估算。这样的测试通常超过了这一行业 的能力。 8.3或附录A中定义的电热效率通常适用(更易使用且误差范围更小)

电热效率按式(4)计算: 效率应声明为: 整个装置的; 仅红外发射器的。

电源使用效率按式(5)计算:

电源使用效率; P 正常工作中的平均功耗: 峰值功耗(见7.8) 本试验是用来测量装置的处理能力维度的, 未来工艺发生变化的可能性。它同样可以被 选为是对设计质量的测试特别 方面的迎试

处理一定数量的工件的能耗,通过对装置包括启动、保温、热稳态和关闭在内的能耗的计算得出 它是装置的总能耗除以测量时间内达到预定质量的工件数量的平均。它是 工件可数时,每片的能耗: 每单位质量的能耗; 工件为连续片状时,每单位面积的能耗。 计算应以7.8中定义的试验数据为基础报告值应包括试验时间

从装置到工件的能量转化效率按式(A.1)计算:

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m(T)AT+EW+R

中: 一装置用于工艺的电能。 工件温升和装置能耗的测量按第6章和第7章的规定 在工艺中,从装置到工件的能量传递效率受装置多种特性和工件的影响如下: 取决于电压及其工作条件的发射器的辆射光谱: 工件的波长依赖性吸收率,它在工艺中可能发生变化; 工件的表面结构和角吸收率,它在工艺中可发生变化; 工件和红外发射器的相对方位,在连续作业装置运行期间会发生变化; 发射器和工件之间被空气吸收的辐射,它在工艺中会因溶剂的蒸发而改变; 装置内部和外部的对流传热,包括装置部件的故意冷却: 从工件或加热室向外界的热传导损失: 发射器和工件之间的窗户、保护栅、网等; 装置杂散辐射的反射或吸收。 因此,能量转化效率随试验条件和设备而变化,如式(A:1)中的E所述 应使用5.3关于试验条件的条款:应特别注意监测试验条件并减少可能影响试验结果但并不保持 定或未被监测的一些影响

虽然不同的红外装置会用于多种不同的工艺:但这些工艺中仅有部分允许对转移到工件的能量 进行精确测量。很多工艺参数在工艺中都很难获取: 如果工件的质量和比热,(T)已知,那么工件中储存的热能便可通过工件的温升计算出来: 如果温度、蒸发质量、比热(T)和蒸发溶剂的蒸发热焙△H已知,那么蒸发能量便可估算 出来; 如果工件进行化学反应的质量以及反应所需的能量已知那么化学反应所需的能量便可估算 出米, 如果IDW模拟被处理炉料的相关物理特性,并且装置的参数设置模拟工艺的相关方面,那么使用 DW的试验可给出合理的精确结果。工件和IDW之间关于上述任意一条的明显差异都能使试验不相 关一些差异的示例为: 仅从二面加热的工件在材料内部表现出了温度梯度:该温度梯度取决于材料的热传导性 以及材料吸收能量的表面: 如果能量仅从表面吸收,则热传导性决定着取决于材料内部深度的温度依赖性。如果辐射同

样会在材料内部的一定深度被吸收,那么以指数方式衰减的穿遗性和热传导性的组合决定者 温度属性。 蒸发测量通常对IDW在工艺前后进行称重。如果某些溶剂在预处理之后仍然残留在IDW 中,则在对IDW冷却时应继续蒸发。

A.3使用试验装置代替生产装置

对用于生产的装置进行测量有局限性,这是因为: 如果装置的设计已经完成,那么在这较晚阶段进行试验能表明装置的性能,但不能为设计过 程提供必要的输入。 整个装置在性能或布局上通常不可改变 在试运行之后,整个装置通常不可用于任何试验。例如,因为安全间题: 然而,经验和数据可用做此类装置下一代产品的设计。 因此,如果满足某些要求,则鼓励在开始新装置的设计之前使用试验装置,而不是对不再适用的老 置进行试验。为了进行有意义的试验并且满足本部分的要求,一台试验装置应提供: 8 模拟考虑之中的工艺的必要方式,例如,有足够速度的传送带,有足够功率的装置; b 充足的多种不同类型的红外发射器,具有完全不同的光谱输出、可用的红外辐射功率以及它们 的儿何形状: 改变工艺空间条件的方法,例如,气流或隔热 d 在所需功率下驱动试验装置以及完全改变红外发射器功率的足够的开关装置。 由工作在特定的光谱范围之内,并且能够提供单一试验技术方案的单只发射器组成的试验设备,对 户的作用较小目不足以进行试验

A.4. 1附一般要求

IDW.应是准备好的预期炉料的二片,或者在准备时应尽可能地考虑下列因素: 应具有与工件相同的表面材料: 应具有与工件相同的表面结构; 如果仅有一个涂层应用到了模拟工件表面的IDW.上,则涂层与IDW之间的热接触在整个表 面上都应非常好; 应为面状或另一种简单形状; 在尺寸上应与预期炉料相当; 如果可能,应有较高的热导率

A.4.2 温度测量的准备

如果IDW由高导热率材料制成,则前面或后面的一个感应点就足够了: 如果需要IDW内部的温度梯度,那么应在其暴露的二面和背面测量温度 如果IDW的厚度允许,并且它的热导率很低,那么可在其内部放置热电偶,以评估内部温度梯度, 如果使用热电偶测量温度,应将它们固定: )以便它们在全部测量时间内以较低的热阻率接触IDW: b)以使它们不影响装置内的照度或热对流; c)仅在高温测量不可行的情况下,应在IDW被辐射的一侧固定。

热电偶的固定应使用以下材料进行: 聚酰亚胺基带; 水泥或耐热胶; 金属焊料: 热粘合到热塑材料上; 在转空放人热电偶

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试验的百标是: 刻画特定装置的特性,以用作规定的工艺: 为特定装置寻找最优工艺参数: 通过研究相关参数为新装置的设计做准备,例如,在A.1中列出的参数。 为了保证试验的相关性,下列各项适用 )应记录整个测量过程中的所有环境参数,它们是环境温度和湿度; 应记录试验装置的所有设置: 如果设置在测量中发生变化,应使用数据记录器记录; 试验记录文件应包括预定的设置以及测得的真实值,例如,电压、电流和功率: 工件或模拟负载的温度测量应使用对所有测量点都有足够时间分辨率的数据记录器记录; f 应记录试验中装置所有的其他变化以及与试验相关联的其他观测值

为了准备试验或限制试验的数量,可使用数值计算

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可在工件或红外模拟负载(IDW)的表面测量下述一个或多个参数,从而获得对装置内工艺均匀性 的描述: 温度: 工件上溶剂的残留量,对该溶剂的蒸发进行评估; 聚合物或清漆交联的程度; 表面沉积物质或涂层的量; 表面的质量损失; 化学反应的程度,可能包括相变; 表面光泽度; 其他与表面相关的参数。 这些参数的测量涉及很多不同的设备和测量方法。一些测量最好使用2D方法进行,例如,红外成 象仪,其他的测量需要复杂的逐点分析。如有可能且如果各种作用之间的简单联系已知,首选最筒单有 改的测量方法:例如,如果化学反应强烈依赖温度,那么温度均匀性的2D测量便足够了。 可使用为本试验特制的IDW,见附录A。 在正常工作中,预期是指工件的整个可用表面(或体积)达到上述参数中至少一种的特定值,而不使 工件的一共部分被过度加热或道受破坏性的处理

B.2测量传感器的位置

如果2D或扫措装置不能用于该测量,但仅有点测法可行,则下列各项适用: )测量位置应包括工作中在红外发射器下暴露最高的样品位置以及暴露最低的位置; b)对间歇式装置和片状材料,应包括片材的中心和角; )对连续式装置和片状材料应包括片材的中心和它的边

可在工件或IDW上安装大量的热电偶 所有的热电偶应以相同的方式固定在工件的同一侧,热电偶的固定方法见A.4.2

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所有的热电偶应有可比的长度、相同的材料,且最好是来自同一供应商的同种型号 测得的信号应通过数据记录器或笔记录

工件或IDW的表面温度可在工 接使用红外成像仪测量 工件或IDW在传输方向上的温度均勾性取决于弹射速度、工件或IDW自身以及环境因素。应估 享这些作用并将它们包含在数据解释和报告中。 在使用测量数据时,应考虑下列作用: 工件或IDW热表面的任何反射以及其他热源或光源可能会引起无关信号; 即便是工件或IDW表面的细微变化也能引起辐射率的剧烈变化,因而产生信号错误; 具有非朗博散射特性的表面可引起表面测量温度的错误变化。 注基本板念在1SO10878中给出

远程点温度测量系统对工 线上的温度以及工件的移动 红外成像仪系统遇到的一些错误

B.3.5涂料或蜡笔标记颜色变化的温度指示

这些材料(通常称作热涂料)在加热过程中不可逆地改变颜色:颜色变化取决于最高温 一定程度上取决于在最高温度上花费的时间。一个较好的方法为: 在IDW的一侧用热涂料打点; IDW被打点的二侧不要对着红外发射器; IDW对着红外发射器的一侧等同于预期工件 通常需要调整试验中使用的指示工艺参数的温感色彩

B.4.1隔溶剂蒸发的均匀性

B.4.2化学反应的均匀性

B.4.3沉积物的均匀性

该试验由制造商和用户协商

该试验由制造商和用户协商

JJG(铁道) 145-2011 铁路机车车辆车轴轴颈量具可测量涂料或清漆光泽的空间变化。 注:1SO2813提供了标准化的方法。 可测量纸张光泽的空间变化。 注:IS08254101系列提供了标准化的方法

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附录C (资料性附录) 装置内辐射分布的测量

GB/个5959,12中列出的方法适用于刻围红外电热装置在所有工作阶段时内部的辐射特性, 要考虑的主要问题为: 大多数或所有的测量设备需要的物理空间比很多装置内部的可用空间天。 所有的通用测量设备不适用于热环境,且不能在50℃以上的环境温度中暴露太长时间。 GB/T5959.12一2020中的测量方法仅适用于点测量。将它们用于空间解析数据的测量时:需 要扫描操作,以刻面任意装置内部辑射或照度特性 光谱扫描需要额外的时间,因此测量时间很容易就达到好几天: 工件影响装置内的辐射场。 试验设备影响装置内的辐射场 最有价值的辐射测量的空间位置在工件的表面

重过更简单的试验仅在装置的一些部位进行验证

可使用GB/T5959.12一2020附录CC中列出的测量装置进行光谱整体照度的测量,将其放在一个 水冷外壳内

GB/T 12496.19-2015 木质活性炭试验方法 铁含量的测定GB/T10066.122020

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