DB45／T 1751-2018标准规范下载简介：

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DB45／T 1751-2018 常压金属储罐底板低频电磁检测规范

资料审查应包括下列内容： a）设备制造文件资料：产品合格证、质量证明文件、竣工图等； b) 设备运行记录资料：开停车情况、运行参数、工作介质、载荷变化情况以及运行中出现的异常 情况等；

DB45/T17512018

c）检验资料：历次检验检测报告； d）其他资料：修改和改造的文件资料等。

对被检工件周围进行现场勘查GDJ 099-2020 有线电视系统用射频同轴连接器技术要求和测量方法，找出并设法排除可能影响检测结果的因素。同时对被检工件进行定 立标识。

检测条件确定至少包括以下内容： a）储罐经排空、置换和清洗后的检测环境必须保证检测人员安全； 被检储罐底板应无影响检测的障碍物和干扰检测的异物，如积液、厚的铁锈或污垢，如有影响 检测的毛刺和氧化皮等必须清除，以保证检测正常进行； c）检测提离高度一般不超过6mm如果仪器的灵敏度能得到保证，提离高度也可以大于6mm

5.4检测设备调试和校准

5.4.1检测设备调试

测前应对检测设备进行系统功能性检查和调试。

5.4.2检测系统校准

5.4.2.1检测系统的探头、主机每次实施检测前都要进行校准，以保证检测结果的准确性，每次校准 均应记录。检测系统校准包括位置校准和灵敏度校准。 5.4.2.2在下列情况下，应使用对比试件对检测设备的灵敏度进行检查或校准： a）每次检测开始前、检测中和结束后； 一宝松测证发运正当

.2.2在下列情况下，应使用对比试件对检测设备的灵敏度进行检查或校准： a）每次检测开始前、检测中和结束后； b）怀疑检测设备运行不正常时； 连续检测时，每2h检查或校准1次； d）合同各方有争议或认为有必要时。

5.5.1扫查方式确定

根据检测的目的和被检工件的形状和尺寸确定扫查方

根据检测的目的和被检工件的形状和尺寸确定扫查方

5.5.2扫查检测过程要求

扫查检测过程要求至少包括内容： a）扫查速度应尽量保持均匀并在检测设备限定速度之内； b）扫查检测中应保证相邻扫描带之间的有效重叠（一般不低于10%，可依据现场情况适当调整） 不引起漏检。

5.6检测结果确认与处理

5.6.1检测结果确认

检测时应根据用户的要求确定需 在检测到超过此深度的缺陷信号时，检测设 备应当报警；对于报警的部位，应当随原扫查路线 进行来回扫查，以确定是否为真实缺陷；若确定为真 实缺陷，检测人员应将发现的缺陷位置在底板和图纸上分别做出标识确认

6.2不可接受检测信号

6检测记录和报告 6.1检测记录 应按照现场操作 的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据，检 干扰，如被检底板剩磁交强， 应在检测中注明。低频电磁检测记录除 符至 NB/T47013.1的规定外， 还至少包括下列内容 a) 检测对象： 设备类 检测又对象名称、 编号、规格尺寸、盛装介 使用年限、材质、公称厚 度、涂层厚度、 涂层材料种类 测部位和检测覆盖率、 检测时 表 面状态、检测时机、被检 底板剩磁状态； b) 检测设备和器材： c) 校准试件的材 ，缺的形状和校准结果； 仪器检测状态 数的设置值： 西 d) e) 原始检测数据 文件名称； 2 标识出超出验收标准的不可接受信号及缺陷位置示意图。 6.2检测报告

应依据检测记录出具检测报告低频电磁检测记录除符合NB/T47013.1的规定外，还至少包括下列 内容： a 检测对象：设备类型，检测对象名称、编号、规格尺于盛装介质及使用年限、材质、公称厚 度、涂层厚度、涂层材料种类、检测部位和检测覆盖率、检测时的表面状态、检测时机； b) 检测设备和器材：名称、规格型号和编号、扫查模式； c) 校准试件的材料、尺寸、缺陷的形状和校准结果； A d) 仪器检测状态参数的设置值； e) 原始检测数据文件名称； f) 标识出超出验收标准的不可接受信号及缺陷位置示意图。

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GB 5768.7-2018 道路交通标志和标线 第7部分：非机动车和行人附录A （规范性附录） 储罐底板检测试件

附录A （规范性附录） 储罐底板检测试件

校准试件应选用止火状态下的钢板制作，厚度可选用8mm，也可选用其他不超过20mm厚的钢板；试 件的长度和宽度至少为探头阵列总扫查宽度的2倍。用铣刀在校准试件上分别加工出直径为Φ10mm和Φ 16mm的四个平底孔，深度分别为厚度的30%和60%；和二个边长为50mm×50mm的方形孔，深度分别为 厚度的30%和60%。所有尺寸公差不大于土0.2mm，各模拟缺陷之间的间距至少为80mm，模拟缺陷距试件 边缘至少为150mm。图A.1给出了扫查探头阵列总宽度为不超过300mm的校准试件示意图。

图A.1校准试件示意图（单位：mm）

A.2.1对比试件应选用与被检对象几何尺寸相同，电磁特性相近的材料制作，试件的宽度至少为探头 阵列总扫查宽度的2倍，试件的长度至少为扫查器长度的3倍再加400mm。除合同有关各方另有约定之外， 应在对比试件长轴中心线上分别加工出深度为板厚的20%、40%、60%和80%的4个球形孔或阶梯平底孔。 A.2.2对于阶梯平底孔的加工，不同板厚推荐孔的阶梯数和直径表如表A.1所示，相邻台阶孔的边缘边 线应形成一个梯形，孔直径与深度的公差不大于土0.2mm，孔与孔之间的间距至少为200mm，两端孔距 试件边沿的距离相同。图A.2为对比试件的示意图。

立板对比试件示意图（单值

表A.1对比试件人工缺陷孔的阶梯数及直径

A.3.1试件表面不应沾有异物，且无影响测试结果的缺陷DB21T 2166-2013 翡翠制品评价规则，

A.3.1试件表面不应沾有异物