GB/T 37951-2019 微通道板试验方法

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标准编号:GB/T 37951-2019
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资源大小:1.5M
标准类别:电力标准
资源ID:222432
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GB/T 37951-2019标准规范下载简介:

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GB/T 37951-2019 微通道板试验方法

5.1.3.3试验数据处理

根据有效区外圆上3个点的坐标,按圆的方程式[式(1)计算有效区直径,取较小者,计算结果表 小数点后一位。

GB/T 19703-2020 体外诊断医疗器械 生物源性样品中量的测量 有证参考物质及支持文件内容的要求5.1.4有效区同心度

5.1.4.1仪器设备

工具显微镜.精度优于0.1mm。

5.1.4.2试验步骤

主要步骤如下: a)将样品平放在工具显微镜台面上; b)调节工具显微镜焦距,使端面图像清晰可见; c)分别在端面外圆和有效区外圆上各选取3个点(3个点之间尽量分散)并采集坐标

5.1.4.3试验数据处理

按式(1)分别计算端面外圆和有效区外圆的圆心坐标,按式(2)计算有效区外圆圆心偏离端面圆心 的距离,即有效区同心度,计算结果表示到小数点后一位

L 两圆心之间的距离,单位为毫米(mm); (al.yi),(x2.y2) 分别为两圆心的坐标。

5.1.5.1仪器设备

工具显微镜,精度优于0.1um。

工具显微镜,精度优于0.1um。

5.1.5.2 试验步骤

两圆心之间的距离,单位为毫米(mm) 分别为两圆心的坐标

主要步骤如下: 将样品平放在工具显微镜台面上; 调节显微镜焦距,使通道清晰可见: 在有效区内,选取3个通道,在每个通道圆周上各选取3个点(3个点之间尽量分散),并采集 坐标,

5.1.5.3试验数据处理

5.1.6 开口面积比

5.1.6.1仪器设备

工具显微镜.精度优于0.1um。

5.1.6.2试验步骤

主要步骤如下: a)将样品平放在工具显微镜台面上; b)调节显微镜焦距,使通道清晰可见; c)在有效区内,选取3组通道,每组为2个相邻的通道; d)在每个通道圆周上各选取3个点(3个点之间尽量分散),并采集坐标

主要步骤如下: a)将样品平放在工具显微镜台面上; b)调节显微镜焦距,使通道清晰可见: c)在有效区内,选取3组通道,每组为2个相邻的通道; d)在每个通道圆周上各选取3个点(3个点之间尽量分散)并采集坐标

5.1.6.3试验数据处理

计算结果表示到小数点后一位,计算步骤如下

GB/T379512019

在每组中选取一个通道,按式(1)计算通道直径,取算术平均值; b) 按式(1)计算6个通道的圆心坐标; 按式(2)计算2个相邻通道圆心间的距离(通道间距),取算术平均值; d) 按式(3)计算开口面积比

式中: OAR 开口面积比; d 通道直径,单位为微米(μm); D 通道间距,单位为微米(um)

5.1.7.1仪器设备

工具显微镜,精度优于0.1um;平行光光源

具显微镜,精度优于0.1um;平行光光源

5. 1.7.2 试验步骤

主要步骤如下: a)专用样品制备: ) 将MCP放在倾斜(可行时,等于斜切角)的夹具上,用平行光照射端面,转动MCP,目视观 察透射光的强弱变化,在透光最强的位置,标注天概的通道倾斜方向; 2) 用力具(如,力片等)在端面上沿通道倾斜方向划切(注意减轻对通道的非预期破坏); 3) 沿切口将MCP瓣开,从而得到通道剖面的样品,如图1所示; 4) 若剖面不规整,以至于难以找到与通道倾斜方向一致的参考线时,在通道倾斜的平行方 向,再次按上述方法解剖MCP,直至得到预期的样品为止。 b) 将上述样品平放在工具显微镜平台上,使端面与平台垂直,且与平台Y轴平行。 c) 调节工具显微镜焦距,使通道剖面图像清晰。 d) 在剖面显微图像的3个不同部位,各选择一根与通道倾斜方向一致的参考线。 e) 在每一根参考线上选取两点,并采集坐标

图1斜切角样品制备及测试原理图

5.1.7.3试验数据处理

5.1.8.1仪器设备

工具显微镜.精度优于0.1mm.

工具显微镜.精度优于0.1mm。

5.1.8.2 试验步骤

x=arctan 3=x

主要步骤如下: 使样品输入端朝上,平放在工具显微镜平台上; b) 调节显微镜焦距,使电极边缘分界线清晰可见; 在电极圆周上选取3个点,并采集坐标; d) 翻转样品使输出端朝上,重复上述步骤,在输出端电极圆周上选取3个点(3个点之间尽量分 散),并采集坐标

王要步骤如下: a) 使样品输入端朝上,平放在工具显微镜平台上; 调节显微镜焦距,使电极边缘分界线清晰可见; 在电极圆周上选取3个点,并采集坐标; d) 翻转样品使输出端朝上,重复上述步骤,在输出端电极圆周上选取3个点(3个点之间尽量分 散),并采集坐标,

5.1.8.3试验数据处理

(mm)为单位,计算结果表示到小数点后一位

5.1.9.1仪器设备

工具显微镜,精度优于0.1mm。

5.1.9.2 试验步骤

主要步骤如下: a) 使样品输入端朝上,平放在工具显微镜平台上; 调节显微镜焦距,使电极边缘分界线清晰可见; c) 分别在输人端电极和端面的圆周上各选取3个点(3个点之间尽量分散),并采集坐标; d) 翻转样品使输出端朝上,重复上述步骤,在输出端电极和端面的圆周上各选取3个点(3个点 之间尽量分散),并采集坐标

主要步骤如下: a) 使样品输入端朝上,平放在工具显微镜平台上; 调节显微镜焦距,使电极边缘分界线清晰可见; c) 分别在输人端电极和端面的圆周上各选取3个点(3个点之间尽量分散),并采集坐标: d) 翻转样品使输出端朝上,重复上述步骤,在输出端电极和端面的圆周上各选取3个点(3个点 之间尽量分散),并采集坐标

5.1.9.3试验数据处理

按式(1)计算电极和端面的圆心坐标,按式(2)计算电极圆心与端面圆心之间的距离,分别得到输 输出电极的同心度,以毫米(mm)为单位,计算结果表示到小数点后一位

5.1.10.1仪器设备

工具显微镜,精度优于0.1um

5.1.10.2试验步骤

GB/T379512019

主要步骤如下: a)专用样品:按5.1.7.2a)的方法制备专用样品(见图1),或使用相同的样品; b)将上述样品平放在工具显微镜平台上,使端面与平台垂直,且与平台Y轴平行: 调节工具显微镜焦距,使通道内电极延伸的图像清晰可见; d) 移动工具显微镜光标,在MCP输入端侧面线(即电极深度的起点)上采集X轴坐标;沿X轴 向移动光标至通道内电极延伸的最大深度处(即电极深度的终点),再次采集X轴坐标: 同样按d)的方法,采集输出端电极起止点的X轴坐标; f 在剖面的3个不同部位,重复上述d)和e)的步骤,分别采集电极起止点的X轴坐标

专用样品:按5.1.7.2a)的方法制备专用样品(见图1),或使用相同的样品; D 将上述样品平放在工具显微镜平台上,使端面与平台垂直,且与平台Y轴平行: 调节工具显微镜焦距,使通道内电极延伸的图像清晰可见; d) 移动工具显微镜光标,在MCP输入端侧面线(即电极深度的起点)上采集X轴坐标;沿X轴 向移动光标至通道内电极延伸的最大深度处(即电极深度的终点),再次采集X轴坐标; e) 同样按d)的方法,采集输出端电极起止点的X轴坐标; f 在剖面的3个不同部位,重复上述d)和e)的步骤,分别采集电极起止点的X轴坐标

5.1.10.3试验数据处理

电极起止点之间X轴坐标的差值的绝对值即为电极深度,分别计算输入和输出电极的深度,取算 术平均值,以微米(um)为单位,计算结果表示到小数点后一位。 需要时.电极深度也可表述为通道直径的倍数(相对值),等于电极深度与通道直径的比值

5.1.11.1仪器设备

5.1.11.2 试验步骤

主要步骤如下: a) 将反射光源和直线参照物(如,直线型灯管)置于净化工作台面的上方; 将样品置于专用器皿中,并平放在净化工作台面上; 目视观察上方直线参照物在端面上的成像; d)水平转动样品一周,旋转时.目视观察在转动过程中直线的像是否有弯曲现象

5.1.11.3试验数据处理

若观察到直线的像有弯曲现象,则判定为变形(即端面平面度较差)。

放大镜或显微镜,放大倍数为10倍,并附带长度测量的标准标板。

按GB/T1185一2006规定的可见法疵病试验方法和破边试验方法,使用放大镜或显微镜观察 对可觉察到的表面疵病用标准标板测量尺寸,并计数

5.2.3试验数据处理

5.3.1.1仪器设备

增益测试装置及测试原理如图2所示

5.3.1.2试验参数

5.3.1.3试验步骤

设置试验参数;用电流计A,测量测量环人射电流;用电流计A,测量I

5.3.1.4试验数据处理

根据测量环入射电流和修正系数计算I;按式(5)计算增益,计算结果表示到个位

式中: G一增益; 输出电流,单位为皮安(pA); 输人电流,单位为皮安(pA)。

电阻测试装置及测试原理如图3所示

5.3.2.2试验参数

V.通常为800V(V.最高不宜超过1200V)

5.3.2.3试验步骤

设置试验参数:用电流计A测量I

5.3.2.4试验数据处理

按式(6)计算电阻.计算结果表示到个位

式中: 电阻,单位为兆欧(MQ); 工作电压,单位为伏(V); I. 传导电流,单位为微安(uA)

式中: 电阻,单位为兆欧(MQ); 工作电压,单位为伏(V); I. 传导电流,单位为微安(uA)。

GB/T379512019

暗电流测试装置及测试原理如图4所示

5.3.3.2试验参数

5.3.3.3试验步骤

设置试验参数:用电流计A测量L。

5.3.3.4试验数据处理

式中: I d 暗电流密度,单位为安每平方厘米(A/cm"); Ia 暗电流,单位为安(A); S。 有效区面积,单位为平方厘米(cm)

式中: I d 暗电流密度,单位为安每平方厘米(A/cm") Id 暗电流,单位为安(A); S 有效区面积,单位为平方厘米(cm)

5.3.4增益不均匀性

5.3.4.1仪器设备

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示;显微镜,放大倍数为10倍

图4暗电流测试原理图

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示;显微镜,放大倍数为10倍

GB/T379512019

图5增益不均匀性测试原理图

5.3.4.2 试验参数

5.3.4.3试验步骤

5.3.4.4试验数据处理

根据可觉察到的荧光屏图像亮暗不均匀分布,判定增益不均匀性。 按分布区域的形状分类,增益不均匀性通常分为: a) 斑点:点状不均匀区域,包括亮点和暗点,亮点的等效直径通常不大于75um,暗点的等效直径 通常不大于300um; b) 网格:以复合纤维(俗称复丝)边界分布的、规则的线条状不均匀区域,包括亮网和暗网,有时 视觉效果表现为亮条或暗条; c) 斑块:不属于上述斑点和网格的其他规则或不规则的、连续或分散的不均匀区域,包括亮斑和 暗斑。 注:当不均匀区域的亮度明显高于正常区域时,称为亮点、亮网和亮斑;反之,称为暗点、暗网和暗斑

5.3.5.1仪器设备

发射点测试装置及测试原理如图6所示;显微镜,放大倍数为10倍

5.3.5.2试验参数

5.3.5.3试验步骤

图6发射点测试原理图

采用可见法试验,主要步骤如下: a)设置试验参数; b)用显微镜观看荧光屏上的图像,观察图像中有无亮点或闪烁; c)当发现有亮点或闪烁时.应调节V.,观察其亮度变化情况

5.3.5.4试验数据处理

若观察到图像中有亮点或闪烁,且随V。的降低而逐渐变暗,并最终消失,则判定为发射! 或闪烁不随V。的降低而改变,通常考虑场致发射(见5.3.6)的因素

5.3.6.1仪器设备

5.3.6.2试验参数

V.同5.3.4.2d)的要求

5.3.6.3试验步骤

采用可见法试验,主要步骤如下: a)设置试验参数; b)用显微镜观看荧光屏上的图像; c)观察图像中有无亮点或闪烁

5.3.6.4试验数据处理

见察到图像中有亮点或闪炼,则判定为场致发射。

5.3.7.1仪器设备

噪声因子测试装置及测试原理如图8所示

GB/T379512019

7场致发射测试原理图

说明: e1 输人电信号: cs 输出电信号; 荧光屏输出光信号;

5.3.7.2试验参数

图8噪声因子测试原理图

5.3.7.3试验步骤

a)样品预处理:按5.4.1的方法对样品进行电子清刷 b) 输入信噪比测试: 1)将未装样品的测试夹具安装在真空室内; 2)设置V。V.; 3)无输人电流时,测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值; 4)2 有输入电流时,再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值 输出信噪比测试: 1)> 将装有样品的测试夹具安装在真空室内; 2)设置V。、V和V,; 3)无输入电流时,测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值; 4)有输人电流时,再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值

5.3.7.4试验数据处理

按式(8)分别计算输人信噪比和输出信噪比,计算结果表示到小数点后两位

GB/T379512019

S/N 信噪比; S. 有输入电流时,平均信号值,单位为皮安(pA); S 无输入电流时,平均信号值,单位为皮安(pA); N. 有输入电流时,偏离平均值的均方根噪声值,单位为皮安(pA); N. 无输入电流时,偏离平均值的均方根噪声值,单位为皮安(pA)。 按式(9)计算噪声因子,计算结果表示到小数点后两位

式中: NF 噪声因子; (S/N)in 输入信噪比; (S/N)a 输出信噪比。

5.3.8.1仪器设备

数显式万用表,电阻挡精度优于1Q

5.3.8.2 试验步骤

NF= (S/N) in (S/N) out

主要步骤如下: a) 选择合适量程的电阻挡; b) 将样品的输人端朝上,平放工作台面上; c) 用万用表测试笔分别接触输人端电极膜层直径方向的两端,测量输人端电极的电阻,在3个不 同的方向各测量一次; d) 翻转样品使输出端朝上,再按上述步骤c),测量输出端电极的电阻

5.3.8.3试验数据处理

分别计算输入和输出电极的电阻的算术平均值,以欧(2)为单位,计算结果表示到个位。

5.3.9.1仪器设备

寿命试验装置及测试原理同增益测试(见图2)

5.3.9.2 试验参数

V.通常为1000V~1500V; 增益阅值(GL,使用功能允许的最低增益限定值); g)额定寿命(TL,使用功能要求的最短使用寿命)。 注:试验参数未给定具体数值时.表示参数待定通常由实际需求确定

V.通常为1000V~1500V; f) 增益阅值(GL,使用功能允许的最低增益限定值); g)额定寿命(TLLY/T 1330-2011 抗静电木质活动地板,使用功能要求的最短使用寿命)。 注:试验参数未给定具体数值时.表示参数待定.通常由实际需求确定

5.3.9.3试验步骤

5.3.9.3试验步骤

主要步骤如下: a)样品预处理:按5.4.1的方法进行电子清刷; b) 设置试验参数; c) 按5.3.1的方法测试增益,首先测量样品的初始值(G。);若G。≥GL,则开始以下试验步骤;否 则,应更换样品,并从步骤a)开始试验; d) 记录试验的开始时间(时刻t); 接一定的间隔时间在线测试增益(G,),间隔时间应与使用寿命的充差相适应,监测点还应包 含TL所对应的时间节点,记录所测增益及对应的时间; 若G,≥GL,试验继续,重复步骤e); g) 直至出现G,

5.3.9.4试验数据处理

使用寿命等于t2和t的时间差;若试验是分段间隔进行的,使用寿命等于累计的实际试验时间 以小时(h)为单位,计算结果表示到个位, 若试验仅需判定使用寿命的符合性,比较T,时刻的增益和GL,判定使用寿命的符合性。 注:在不改变MCP增益失效机理的前提下,可行时(如,生产厂家和顾客双方约定等),按加速试验模型进行使用寿 俞试验.可大幅缩短试验时间

使用寿命等于t2和t,的时间差;若试验是分段间隔进行的,使用寿命等于累计的实际试验时 小时(h)为单位,计算结果表示到个位, 若试验仅需判定使用寿命的符合性,比较T,时刻的增益和GL,判定使用寿命的符合性。 注:在不改变MCP增益失效机理的前提下,可行时(如,生产厂家和顾客双方约定等)SN/T 2869.2-2011 植物种质资源鉴定方法 中草药青蒿的鉴定,按加速试验模型进行使月 命试验,可大幅缩短试验时间

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