SL 113-2014标准规范下载简介：

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SL 113-2014 光电式液塑限测定仪校验方法

主机校验性能要求如下： a）电磁控制装置应能稳定吸住圆锥仪，其吸力应不小于1N。 b）试样杯的内壁粗糙度应不大于Ra3.2μm。 c）圆锥仪开始下沉至读数显示时间应为5s，允许误差在0～0.5s范围内。 d）电气设备的绝缘电阻应不小于1Ma

圆锥仪校验性能要求如下： a）质量应在（76±0.2）g范围内。 b）锥角应在（30士0.2）°范围内，锥尖磨损高度应不大于0.3mm。 c）刻度尺的刻线最大允许误差为士0.1mm，刻线宽度差应不大于0.05mm。 d）表面粗糙度应不大于Ra3.2um。

显的振动干扰。 5.1.2校验室温为（20士10）℃，校验时室温变化应不大于2℃/h 5.1.3相对湿度应不大于80%。 5.1.4校验前，光电式液塑限测定仪和校验用器具等温平衡时间应不少于2h。

DB13 169-1993 AS60复合甜味素5.2.1校验器具应检定或校准合格。

a）秒表（分辨力为0.1s)：最大允许误差为士0.5s/d。 b）工具显微镜：最大允许误差为3μm。 c）表面粗糙度比较样块：允许误差为一17%～+12%。 d）电子天平：最大称量大于100g，分度值10mg。 e）卡尺：最大允许误差为土0.02mm。 f）兆欧表（500V)：最大允许误差为士10%。 g）码：M1等级。

SL113—2014

6.2.1校验前的检查

交验前应按照4.1的各项要求对光电式液塑限测定仪进行检查或调校

6.2.2.1电磁控制装置的吸力

将101g磁码（100g和1g码组合）吸于电磁控制装置上的电磁铁，当能平稳吸住时，则电 装置的吸力符合4.2.1a）的要求。

6.2.2.2试样杯的内壁粗糙度及接触面粗糙压

用表面粗糙度比较样块进行比较测量。测量时以最接近的表面粗糙度比较样块值作为测量结果 应符合4.2.1b）的要求，

6.2.2.3圆锥仪开始下沉至读数显示时间

将土样装人试样杯中，置于升降台上，转动平台调整升降，使圆锥尖与土面轻微接触至计时指 ；操作按钮使圆锥仪自由落下，并同时按动秒表，当读数指示管亮时，记下所用时间。校验应 制定，结果应符合4.2.1c）的要求，

6.2.2.4电气设备的绝缘性

6.2.3.1圆锥仪的质量

将圆锥仪放置在电子天平上称其质量，测量两次，取两次测量结果的平均值作为圆锥仪的质量 果应符合4.2.2a)的要求。

SL 1132014

6.2.3.2圆锥仪锥角度

尺分别测量圆锥仪的锥底直径和锥高，测量两次，取其平均值，应按公式（1）计算圆锥仪 结果应符合4.2.2b）的要求。

6.2.3.3圆锥仪锥角磨损

将圆锥仪的圆锥倒插在圆锥检验座上，置于仪器平台上后打开投 节平台高度及检验座的位置，使圆锥影像和屏幕上的标准锥角重合。 当圆锥落入锥角标准影像的锥尖处于两平行线之间时（标准锥角投影 见图2)，则结果符合4.2.2b）的要求。

6.2.3.4刻度尺刻线误差和刻线宽度差

将刻度尺放置在工具显微镜上并调焦，使刻度尺上刻线清晰，再 调节刻度尺的位置，使刻线面与工具显微镜的纵轴垂直。选择刻度尺

的零刻线进行瞄准对线，在工具显微镜上读数得d。，移动纵向工作台，分别选择全长刻线范围内均 匀分布的三条刻线进行瞄准对线并在工具显微镜上读数得di，则两次读数之差为被测刻线的实际尺 寸。刻度尺上标称尺寸与实际尺寸之差为刻度尺刻线误差。所得结果应符合4.2.2c）的要求。在刻 度尺全长范围内，至少抽检均勾分布的三条刻线测量刻线宽度，结果应符合4.2.2c）的要求。

6.2.3.5圆锥仪表面粗糙度

用表面粗糙度比较样块进行比较测量。测量时以最接近的表面粗糙度比较样块值作为测量结果， 结果应符合4.2.2d）的要求。

.1.1经校验符合本标准技术要求的光电式液塑限测定仪JT/T 1316-2020 城市水上旅游客运服务规范，出具附校验记录的校验证书。经调校、 维修后校验仍不符合本标准技术要求的光电式液塑限测定仪，出具附校验记录的校验结果通知书，并 注明不合格项。 7.1.2校验记录表格式见附录A，校验证书和结果通知书格式见附录B。

7.2.1光电式液塑限测定仅校验周期不宜超过1年，设备停用超过半年或维修后，在使用前均应进 行校验。 7.2.2当使用频率较高时，应缩短校验周期。

表B.1光电式液塑限测定仪校验证书格式

DB1409T 3.2-2020 忻州月嫂 服务规范表B.2光电式液塑限测定仪校险结果通知书格式

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