GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 1553-1997 文件类型:.rar 资源大小:539.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8260 VIP资源 GB/T 1553-1997标准规范下载简介: GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。 林业标准 铁路运输标准 土地管理标准 文化标准 冶金标准 兵工民品标准 水产标准 地方标准 建筑材料标准 有色金属标准 体育标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 下一篇 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 相关文章