GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 更新时间:2008年04月24日 资源 GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 11685-2003 文件类型:.rar 资源大小:854.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:4163 VIP资源 GB/T 11685-2003标准规范下载简介: GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。 农业标准 航天工业标准 机械标准 煤炭标准 外经贸标准 电子标准 卫生标准 国家*用标准 水产标准 汽车标准 金融标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 11684-2003 核仪器电磁环境条件与试验方法 下一篇 GB/T 11813-1996 压水堆燃料棒氦质谱检漏 相关文章