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DB32／T 4378-2022 《衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法》.pdf

7.5测试示例参见附录A

DB32/T4378—2022

测试报告中应至少包括以下内容： a) 测试日期； b) 测量者； c) 试样的描述； d) 方法标准； e）测试结果

图A.1为PET基底石墨烯薄膜。

A.2.1四探针方块电阻测量仪

A.2.2导电橡胶探针探头

图A.2为导电橡胶探针探头。

图A.1PET基底石墨烯薄膜

图A.2导电橡胶探针探头

A.3.1带导电橡胶探针探头的四探针方块电阻测量仪在23℃，湿度不超过65%的测试环境下开机预 热30min以上。 A.3.2将目测平坦的PET基底石墨烯薄膜样品置于测试环境下至少30min。 .3.3可将PET基底石墨烯薄膜表面分为5个测试区域，应至少选择一条对角线上的3个测试区域 进行测试，其中应包括试样的几何中心（如图A.1）。每个测试区域应至少测试3次，且所选测试点的探 针探头边缘到试样边缘的距离至少大于探针间距的10倍以上

A.3.1带导电橡胶探针探头的四探针方块电阻测量仪在23℃，湿度不超过65%的测试环境下开机预 热30min以上。 A.3.2将目测平坦的PET基底石墨烯薄膜样品置于测试环境下至少30min。 A1.3.3可将PET基底石墨烯薄膜表面分为5个测试区域，应至少选择一条对角线上的3个测试区域 进行测试，其中应包括试样的几何中心（如图A.1）。每个测试区域应至少测试3次，且所选测试点的探 针探头边缘到试样边缘的距离至少大于探针间距的10倍以上

TCMSA 0006-2018 铁路交通气象服务指标建立方法指南DB32/T4378—2022

图A.3PET基底石墨烯薄膜测量位置示意图

根据式（1)计算PET基底石墨烯薄膜的方块电阻，或软件直接给出PET基底石墨烯薄膜的电阻 率。表A.1显示了软件直接给出样品3个区域的9个方块电阻数据

T基底石墨烯薄膜方块电阻测试数据记录与结果