DB61／T 1448-2021标准规范下载简介：

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DB61／T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程.pdf

2间歇寿命试验流程图

具固定器件引线，导通

DB61/T1448202

DB61/T 14482021

5.2.2选择控制方式

试验电流电压等驱动条件的选择应根据产品的详细规范，不应超过产品的最大额定值。试验条件需 要通过摸底试验得到，ton/toff试验条件的设定应保证器件在间歇寿命试验的初始阶段达到△ Tc=85.s+15℃的要求。典型试验条件见表1。

表 1 典型试验条件

注：时控方式在正式试验开始之前QB 1361-91 红烧扣肉罐头，需要先验证产品的温 在所设置的开启和关断时间（ton/toff）内 需保证壳温的变化量满足△Tc=85.s+15℃，

主：时控方式在正式试验开始之前 需保证壳温的变化量满足△Tc=85.

5.4.1完成上述试验后，对器件按照详细规范要求进行电参数及热阻（适用时）测试。 5.4.2终点测量应在器件从规定试验条件下移出后的96h内完成。 5.4.3在规定的时间内不能完成测试，器件在完成测量之前应追加200次相同条件的试验循环。