GB/T 13542.2-2021 电气绝缘用薄膜 第2部分:试验方法.pdf

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GB/T 13542.2-2021 电气绝缘用薄膜 第2部分:试验方法.pdf

GB/T13542.22021

本文件描述了电气绝缘用薄膜的试验方法 本文件适用于电气绝缘用薄膜

GB/T13542.2202

电气绝缘用薄膜第2部分:试验方法

GB/T 4325.9-2013 钼化学分析方法 第9部分:镍量的测定 丁二酮肟分光光度法和火焰原子吸收光谱法气绝缘用薄膜第2部分:试验

GB/T 13542.22021

本文件没有需要界定的术语和定义

卷上取样时,应至少先剥去最外3层薄膜,并按有

除非产品标准或本 膜卷应在23℃2℃,相对湿 0土5%的条件下至少放置24 下理1h

厚度应按GB/T13542.3、GB/T13542.4、GB/T13542.6以及其他有关产品标准的要求采用下列规 定中的一种或几种方法进行测定

给出两种方法,一种用单层法,另一种用叠层法

B/T6672,用立式光学计或其他合适的测厚仪测

5.2.2.2测量仪器

GB/T 13542.22021

薄膜厚度小于100um时,用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测 帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。测量压力为0.5N~1N。薄膜厚度≥100um时,可用 千分尺测量。 所需仪器精度如下: 薄膜厚度<15um时,精度不低于0.2um; 薄膜厚度≥15μm但<100μm时,精度不低于1μm; 薄膜厚度≥100um时.精度不低于2um

沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜(当膜卷宽度小于400mm时,可适当多取几条),试 样不应有皱折或其他缺陷。 按GB/T6672的规定,用合适的平面或球面测帽的测厚仪,测量试样的厚度 在试样上等距离共测量9点,试样宽不小于300mm,沿试样长方向两测量点间不少于50mm。对 未切边的卷,测量点应离薄膜边缘50mm;对已切边的卷,测量点应离薄膜边缘2mm。

值的中值作为试验结果,并报告最大值和最小值

5.2.3.1测量仪器

为1um,直径为6mm的平面测帽,测量压力为6

按GB/T451.3对叠层厚度进行测量,与多片测量结果不同。薄膜叠层试样数量为四个,每个叠 羊由12层薄膜组成。其制备方法如下:从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取,并沿薄膜样条 度方向缠绕于洁净的样板(尺寸宜为:250mmX200mm,其中200mm为板的长度方向尺寸)。在 之前去掉叠层的最外层和最内层(实际测量10层),再进行测量

叠层试样测量厚度除以10,得到单层薄膜厚度,取其平均值作为试验结果,并报告最大值和 值。

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5.3重量法(质量密度法)

5.3.1用重量法测定试样的平均厚度

5.3.1.2测量仪器

采用下列仪器及器具: 分析天平:感量0.1mg; 钢板尺:分度值0.5mm

在薄膜卷上取三片长方形试样,每片质 300 mg。 用钢板尺测量试样的尺寸并计算面积,用分 斤天平测量试样质量。按第6章规定测 量试样的密度

每个测量值的结果按式(1)计算:

10000m h= (1) d·s 式中: h—试样厚度的数值,单位为微米(um); 试样质量的数值,单位为克(g); 试样面积的数值,单位为平方厘米(cm"); 一试样实测密度的数值,单位为克每立方厘米(g/cm")。 取三个计算值的中值作为试验结果,结果取三位有效数字

5.3.2用重量法测定卷的平均厚度

原理:按GB/T20220一2006中的第4章,根据卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密 均厚度

5.4横向厚度分布和纵向厚度变化

按GB/T1033.1的规定测定,具体方法由产品标

按GB/T6673的规定进行测定,沿样品纵向取5m,使薄膜处于放松状态1h后,沿纵向等距离 宽度五次。

记录每一宽度测定值,取中值作为该卷的

录每一宽度测定值,取中值作为该卷的宽度

8卷绕性(偏移/弧形或凹陷)

GB/T 13542.22021

评定成卷供货的薄膜的变形情况 薄膜的变形可能有两种形式,它们会影响以后使用时的绕包性。这两种变形如下: 偏移/弧形:薄膜平整地展开时,其边缘不呈直线(见图1): 凹陷:薄膜的局部面积因受拉伸,从而会出现低于总平面的凹陷部分(见图2和图3)。

图2卷绕性测定示意图(方法A偏移/弧形的测量及方法B偏移/弧形、凹陷的测

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图3卷绕性测定示意图(凹陷的测量)

规定两种方法测量变形。 方法A适用于窄的薄膜(小于150mm),其变形主要表现为偏移/弧形。 对于很厚的薄膜,其变形主要表现为凹陷,采用方法A测量。若采用方法B时,因为薄膜的厚度很 厚,使其延伸所需的张力过大而难以实现。 方法B适用于较宽的薄膜(大于或等于150mm),其变形主要表现为凹陷

评定偏移/弧形的测量时,从卷上放出 评定凹陷的测量时,从卷上放出一段薄膜,在规定的条件下,垂直放置于二平行辊上,测量与标准 垂直直线之间的偏离值(见图2)。

8.3.2偏移/弧形的测量

采用下列设备及器具: 用合适材料做成的平整水平台,其台面光洁(不抛光),其宽度大于被试薄膜宽度,长度 1500mm±15mm,两端不平行度不超过0.1(或1.8mm每1m桌宽);

软刷子,用以把薄膜在桌上刷平; 钢直尺,长度大于1525mm; 钢板尺,分度值为1mm,长度为150mm

软刷子,用以把薄膜在桌上刷平; 钢直尺,长度大于1525mm; 钢板尺,分度值为1mm,长度为150mm

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剥去膜卷最外三层薄膜。取一段约2m长的薄膜作为一个试样,共取三个试样。取样时应缓慢放 卷其速度约300mm/s。

将薄膜试样按图1所示放置于桌面上。用软刷子从一端起轻压试样.使之与桌面紧密接触,并排除 里面的空气。然后,将钢直尺压在薄膜的一边相距1500mm士15mm的两个点上,用钢板尺测量薄膜 该边缘与钢直尺之间的最大距离d1。再将钢直尺压在薄膜的另一边相距1500mm士15mm的两个点 上,用钢板尺测量薄膜该边缘与钢直尺之间的最大距离d?。 用另两个试样重复上述过程

试样的偏移/弧形为d,与d²之和,单位为毫米(mm)。 取三次测定的中值作为试验结果,并报告另两个值,结果取两位有效数字

在一个刚性机架上,装有两个平行的、能自由转动的金属辊,每个辊的直径为100mm土1mm,其 长度应大于被试薄膜的最大宽度。两辊的轴线应位于同一水平面,且相互间的不平行度不大于0.1°(即 .8mm每1m辊长),两辊相距1500mm土15mm。辊面圆柱度为0.1mm,表面为无光光洁度(不抛 光)(见图2)。机架上设有一个装置,能将被试薄膜卷固定在其中一个金属辊的正下方,使薄膜卷的轴 我与上方的金属辊平行(不平行度为1°以内),且薄膜的横向位置可随意调节,放卷时张力可调。在机 架的另一端从第二辊子自由悬挂下来的薄膜上装一重物或弹簧夹,其重量或弹簧力及在薄膜上的位置 可调,使薄膜横向承受产品标准中规定均匀的张力。 为了测量沿两辊中间的一条直线薄膜低于两辊平面的距离(见图3),需要一把长的钢直尺(长度在 525mm以上)和刻度为1mm的钢板尺。也可采用其他装置,自动或半自动记录薄膜的位置

将薄膜试样放在设备的两辑子上,把薄膜的自由端夹于张力装置中,调节张力至产品标准中规定 值。当薄膜经过第二辊子时要调节薄膜的横向位置,使薄膜在两辊中间近似为水平。 将长钢直尺放在两平行辊上,用钢板尺测量长钢直尺与薄膜最大距离,准确至1mm(见图3),作为 该次试验的凹陷值,或用其他合适的装置进行测量。 另用两个试样重复上述过程

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用一次测量来评定凹陷和偏移/弧形的总值。放出一段薄膜,在规定条件下放置在两个平行辊 膜的纵向与辊轴垂直,张紧薄膜直至无可见的凹陷和偏移/弧形,测定这种状态下薄膜的伸长 直接用收卷机上的辑简进行此项测量更方便,但有争议时,其尺寸距离应按下面的规定,

在一个刚性机架上,装有两个平行的、能自由转动的金属辊,每个辊的直径为100mm土1mm,其 长度应大于被试薄膜的最大宽度。两辊的轴线应位于同一水平面,且相互间的不平行度不大于0.1°(即 .8mm每1m辊长),两辊相距1500mm士15mm。辊面圆柱度为0.1mm,表面为无光光洁度(不抛 光)(见图2)。机架上设有一个装置,能将被试薄膜卷固定在其中一个金属辊的正下方,该装置应为: 使薄膜卷的轴线与上方的辊子平行(2°以内); 薄膜的横向位置可随意调节; 一薄膜从卷中拉出时,放卷张力可调。 在机架的另一端从第二辊子自由悬挂下来的薄膜上装一重物或弹簧夹,其重量或弹簧力及在薄膜 上的位置可调,使薄膜横向承受产品标准中规定均匀的张力。 一根钢直尺(长度为1525mm以上)。 一把2m或2m以上的钢卷尺(刻度为1mm)。 个合适的自粘性标签

剥去膜卷最外三层薄膜。取一段约2m长的薄膜作为一个试样,共取三个试样。取样时应缓慢放 卷其速度约300mm/s

将薄膜试样放置在设备的两辊子上,用手轻拉薄膜,移动薄膜的自由端,使在辊子之间的薄膜尽可 能地平,然后把自由端夹在张紧装置中,调节张力至1.0MPa土0.2MPa(以薄膜的标称厚度和宽度 计算)。 在薄膜出现最小凹陷且平行于薄膜边缘的一条直线上用自粘性标签做两个标记(相距1000mm~ 100mm之间),用钢卷尺测量两标记之间的距离,准确到土0.5mm。 增加作用于薄膜上的张力直至: 一薄膜基本上是平整的; 一以钢直尺为基准,薄膜每一边都是直的(偏差在0.5mm以内); 一以钢直尺为基准,任一点的凹陷不超过7.5mm。 用钢卷尺测定在此张力下两个参考标记之间的距离,以薄膜的伸长占两个标记间起始距离的百分 数表示。 另用两个试样重复上述过程

偏移/弧形的总值以三次测量的中值表示,并报告

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用接触和不接触检测方法测量 维表面影像仪评估表面粗糙度。粗糙 度的最小分辨率、准确度和映象点间测量表面面积和距离由供需双方协商规定。表面粗糙度按以下规 定进行。

薄膜经粗化后,形成微小的回凸不平的表面,利用仪器的触针(或探头)在薄膜表面上移动,从而测 出薄膜的表面粗糙度Ra

采用下列仪器和用品 能满足薄膜试样的平均粗糙度测试范围及精度要求的表面粗糙度测试仪器的均可使用,仪器 误差不大于±10%; 丙酮少许及端部包有脱脂棉花的棉签

从样品上纵、横向各取三块试样,其尺寸以能完全覆盖与仪器配套的测试小平面为准。试样表面 净,无损伤、皱折。

上,试样要完全贴紧平面,天 、横向六个Ra的数值

面粗糙度以三个试样六个Ra的算术平均值表示

采用下列仪器和器具: 分析天平:称量200g,感量0.1mg; 杠杆千分尺:量程25mm,分度值0.001mm; 取样板:300mm×100mm×(1.5~3.0)mm的不锈钢板

取10层薄膜,在平行且离薄膜边缘20mm以上的位置,用取样板取300mm(纵l

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向)的试样三个,若薄膜宽度小于100mm时,薄膜的宽度即为试样的宽度

按5.2.3叠层法测定试样的厚度。 按5.3质量密度法测定试样的厚度

按式(2)计算结果:

按GB/T10006的规定测定。 原理:本方法包括对在规定条件下塑料薄膜或薄片在其本身或其他物质上滑动时的起始摩擦和滑 动摩擦的测定。该方法允许用滑块静止而平板移动或滑块运动而平板静止。两种方法都能得到规定试 样的表面摩擦系数

12湿润张力(聚烯烃薄膜)

表面张力逐渐增加的一系列有机混合液滴,当它们达到一定浓度时,具有对薄膜表面湿润的能力, 由于在空气存在下,薄膜与相应的混合液滴相接触的湿润张力是空气一薄膜和薄膜一液体两者界面的 表面能的函数,从而在液体试剂或薄膜表面有任何的微量活性杂质会影响测定结果。因此,不应触摸或 察被试薄膜表面,所用设备必需干净,试剂应为分析纯

采用下列器具: 长约150mm的棉签一根; 50mL量杯两个; 贴有标签的100mL带盖瓶一个。

采用下列器具: 长约150mm的棉签一根; 50mL量杯两个; 贴有标签的100mL带盖瓶一个。

的配比 制备混合液。 如有要求,可在表1中所列的每种混合液中加人极少量的高着色性染料。 宜对混合液的表面张力每周校核一次,实验室常用的表面张力测定方法均可采用。虽然所列出的 昆合液相对比较稳定,但还应避免放置在温度高于30℃,相对湿度大于70%的场合。 注:所用染料的颜色能使液滴在聚烯烃薄膜表面清晰可见。而且,染料的化学组分对测量混合液的湿润张力绝无

MH/T 1064.1-2017 直升机电力作业安全规程 第1部分:通用要求GB/T 13542.22021

影响。 乙二醇单乙醚和甲酰胺均有毒,操作时应适当注意。因甲酰胺直接接触眼睛特别危险,在配制混合 液时,应戴上防护眼镜,应遵守相关安全法,

表1测量聚乙烯和聚丙烯薄膜湿润张力 醇单乙醚、甲酰胺混合液的浓

剥去薄膜卷最外三层薄膜,沿薄膜整个宽度取样。应在试样的1/4、1/2、3/4宽度位置上进行试 果三个测量值之差大于2.0mN/m,则表明为不均匀的聚烯烃薄膜,应沿卷长方向按上述要求三点 再试验(共计九次测量)。 取样时应不要触摸薄膜试样被试部分的表面

T10580一2015中的标准天气(B)(23℃土2℃/

GB/T 13542.22021

DB37T 4305-2021 浅层地热能开发利用地质环境监测规范GB/T 13542.22021

用混合液中的一种沾湿棉签的顶部。液量尽可能少,因试剂过多会影响结果。 把液体轻轻酒在试样所选定的部位上约6.5cm(直径约25mm),不要试图去覆盖再大的面积,以 免在有效面积液体不足,记下在薄膜上形成连续液面到分裂成液滴所需的时间。如果保持连续液面在 2s以上,则换用表面张力更高的混合液进行试验。如果保持连续液面不到2s就分裂成液滴,则用表 面张力更低一些的混合液进行试验。为防止溶液污染,每次均应换用一根干净的棉签。 按上述方式连续重复规定的步骤,直到能按12.7的规定选出正确的混合液为止。 经验表明,用表面张力一级级降低的混合液进行试验时,偶尔会得到错误的结果,因此推荐试验人 员再用表面张力一级级升高的混合液进行校核

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