GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 更新时间:2009年03月12日 资源 GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 4377-1996 文件类型:.rar 资源大小:459.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:12309 VIP资源 GB/T 4377-1996标准规范下载简介: GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试,不适用于双端(单端口)器件。 地质矿产标准 烟草标准 铁路运输标准 旅游标准 兵工民品标准 国家计量标准 商检标准 有色金属标准 稀土标准 建筑材料标准 商业标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 4365-2003 电工术语 电磁兼容 下一篇 GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 相关文章